【神奈川】SEM 走査型電子顕微鏡

【神奈川】SEM 走査型電子顕微鏡

型番：JSM7600F EDS(Oxford) CL4(Oxford)

概要：電子顕微鏡として各種素材の表面を観察することができます。オプションとして、EDS(元素分析)、CL(カソードルミネッセンス解析)を行うことができます。

#SEM #EDS #CL

詳細・スペック

利用可能時間

備考

平日 9:30～16:30（年末年始や臨時休業を除く）

立会料 : 1,500\/1時間あたり
(立会とは、装置操作方法説明などのサポートです。必要な場合に選択ください。)

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実験設備

SEM 走査型電子顕微鏡

その他の設備

駐車場/Wi-Fi

詳細・スペック

倍率 : ×20～1,000,000
分解能 : 1.2nm(30kV時)

オプション
EDS
CL
帯電防止コート装置
　・オスミウムコーター
　・カーボン蒸着装置
断面試料作製装置

可能な実験例

・SEM画像観察
・EDS元素分析
・CLカソードルミネッセンス解析

用途例

・表面観察

詳細・スペック