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単結晶X線構造解析装置による結晶構造解析(測定のみ、測定及び構造解析)

単結晶X線構造解析装置による結晶構造解析(測定のみ、測定及び構造解析)の画像1
  • Ic equipment spec 概要:CCD:X線回折により微小の単結晶試料(1mm以下)から化合物構造を測定します。金属から有機化合物まで広範囲の試料が測定できます。結晶構造決定のファーストチョイスです。 IP:X線回折により化合物の構造を測定します。銅線源を用いるため、天然物化学分野などで、有機化合物の絶対構造を明らかにする場合に威力を発揮します。
  • #X線回折 #化合物構造測定 #金属 #有機化合物 #X線構造解析

    詳細・スペック

    契約形態
    備考
    納期目安
    その他
    受託研究契約
    他にも、【沖縄】様々な測定や解析が可能な大学のラボ(産学連携先)
    に設置のある機器については実験委託が可能です。
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