1.半導体のホール効果測定(測定温度:20 Kから1060 K) ・抵抗率の温度依存性・多数キャリア密度の温度依存性・多数キャリアの移動度の温度依存性 2.多数キャリア密度の温度依存性からの解析・評価(FCCS法) ・ドーパント(ドナー、アクセプタ)の密度とエネルギー準位の評価 ・多数キャリア...
試験方法の要望対応可能
試験計画の立案可能
半導体工学の専門家によるアドバイスや共同研究が可能
半導体開発
液体または固体試料を一定の速度で加熱しながら、その重量を連続的に測定する技術です。試料の重量変化と温度の関係から、分解、酸化、還元、昇華、吸着・脱着、相転移などの反応に関する情報が得られます。測定温度範囲は室温から1000℃程度です。窒素ガス雰囲気下での測定も可能です
試験方法の要望対応可能
試験計画の立案可能
高分子、有機物、無機物、金属錯体、薬品などの熱重量分析。ただし、発火性および爆発性のある試料の測定は不可。
液体または固体試料を一定の速度で加熱しながら、その熱容量(比熱)を連続的に測定する技術です。試料の熱容量変化と温度の関係から、分解、酸化、還元、昇華、吸着・脱着、相転移などの反応に関する情報が得られます。測定温度範囲は-150から500℃程度です。窒素ガス雰囲気下での測定も可能です。
試験方法の要望対応可能
試験計画の立案可能
高分子、有機物、無機物、金属錯体、薬品などの熱容量分析。ただし、発火性および爆発性のある試料の測定は不可。
定期便でもスポット対応での利用も対応致します。
・-150℃以下~15℃の品質管理に厳格な製品輸送に対応しています。
・-150℃以下の製品はドライジッパーによる輸送により航空輸送も問題ありません。
・自社車両(定温車両)による輸配送を行います。
・オントレイシスによるリアルタイム温度管理を実施します。
・温度に厳格な製品や衝撃に弱い製品の移動に対してご利用ください。