検索結果:機器訪問利用カテゴリ「サンプル」(16件)
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東京都
機器訪問利用
物理学・化学・生物学の実験や検査などで広く用いられている、光学的性質を測定することができる装置です。
可能な実験例
〇色素や蛍光物質の定量
ルミフラビンのように、目的となる物質自体に色、蛍光がある場合には、直接定量することができます。
〇ブラッドフォード法によるタンパク質の定量
タンパク質と色素クマシーブルーが結合すると、溶液の吸光度が変化することを利用して、溶液中の全タンパク濃度を定量します。ある特定のタンパク質を定量するには、抗原抗体反応を利用して発色・蛍光させるELISA法が用いられます。
〇細胞増殖の測定
多サンプルの細胞数を一度にカウントする方法の一つに、MTTアッセイがあります。MTTアッセイでは薬剤を細胞に代謝させ、代謝によって発色された量を定量します。他にも、核酸に特異的に結合する蛍光試薬を用いて蛍光強度を測定し、DNA量から細胞数をカウントする方法もあります。
〇細胞生存率の測定
膜透過性のDNA染色試薬と不透過性のDNA染色試薬を使い分けることで、生細胞と死細胞を染め分けて定量することができます。
〇酵素活性の測定
プロテアーゼ、コラゲナーゼ、エラスターゼなど多くのキットが市販されており、酵素活性に応じた発色を測定することができます。
〇活性酸素の測定
試薬が活性酸素によって酸化されると、蛍光を発します。
※組織により上記実験ができない場合がございます。
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茨城県
機器訪問利用
観察対象物に対して前処理が一切不要で、そのままの状態での観察・測定が可能です。観察視野全てに焦点が合った超深度画像での観察が可能で、短波長レーザと白色光源を併用することで、高解像度と色情報を両立した高精細リアルカラー超深度画像での観察が可能です。非接触なので様々な対象物に対応するうえ、観察視野...
可能な実験例
○半導体の測定
デバイスの性能を左右する静電ミラーアレイ用電極基盤の3次元形状測定や、透明なマイクロレンズでも、表面の僅かな反射率を検出できるので測定可能です。
○電子部品の評価
フレキシブル基盤のコネクタ部分のラッチ部の形状や、接続時の状態を正確に測定できるので、電子機器の信頼性を評価することができます。
○機能性素材の測定
塗料や粘着テープのように粘性があるもの、繊維などの軟性があるもの、ゴムなどのように弾性があるものでも非接触での表面測定が可能です。
○細胞内物質の挙動観察(医学・生理学用)
一つの細胞内物質が刺激を受けた時に、他の細胞内物質がどう挙動するかを観察することができます。
※組織により上記実験ができない場合がございます。
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茨城県
機器訪問利用
紫外領域と可視領域の光の領域を用いて溶液の吸収スペクトルを測定し定量分析います。
可能な実験例
◯物質の透過率の測定
物質の透過を測定し、物質の量(濃度や膜厚)から透過率を算出することができます。
◯物質の反射率の測定
試料ステージに反射測定用ユニットを設置することで、物質の反射率を測定することができます。
◯物質の吸光度、バンドギャップの算出
物質の透過率、反射率から、物質の特定波長における吸光度が算出されます(透過測定が振り切っていない場合のみ)。またピークの立ち上がり波長からバンドギャップが算出されます。
◯物質のキャリアの確認
物質がキャリアを持つ場合には、物質の透過スペクトルにおける概ね700nmから長波長側に吸収が見られます。
◯特定物質の定性、定量分析
測定対象物質があらかじめわかっている場合は、吸収ピーク波長のシフトや濃度といった情報が得られます。
〇その他
偏光子をもちいることで、物質の光応答性に関する異方性の情報が得られます。配向結晶などに対して計測することで、結晶軸による光応答性の違いがわかります。
※組織により上記実験ができない場合がございます。
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茨城県
機器訪問利用
電子プローブマイクロアナライザ(EPMA)は、物質表面に電子線を照射して、そこから発生する特性X線を計測し、試料を構成する元素とその量を測定することができます。
可能な実験例
◯物質の構成元素の定量分析
物質を構成する元素の強度比から、定量分析が可能です。電子顕微鏡観察面での分析であり、試料全体の定量分析ではないことに注意が必要です。また標準試料を用いることによって、定量の精度が向上します。
◯物質の構成元素の定性分析
検出したX線の波長からどのような元素が含まれているかわかり、未知物質の組成推定に用いることができます。検出限界は 程度で、0.001質量%(重元素の場合)で、微量成分の分析には向きません。
◯相分離構造のマッピング分析
観察面の各位置から検出された特性X線波長を各元素ごとに色分けすることにより、元素マッピング分析が可能です。合金、磁石、鉱石などの相分離構造観察などに活用されます。
◯デバイスの縦方向組成分析
半導体などのデバイス断面を観察することで、各層を構成する元素組成がわかります。デバイス構成によっては層膜厚が分解能以下であるため、各層の組成ずれや層間の元素拡散の度合いが定性的にわかります。
◯汚染、不純物の組成特定
製品の不良解析や原因推定の際に有効な手段です。例えば不良があった半導体製品の表面に意図せず付着しているドロップレットの構造、組成が分かると、原因特定に役立ちます。
※組織により上記実験ができない場合がございます。
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神奈川県
機器訪問利用
電子顕微鏡として各種素材の表面を観察するだけでなく、集束イオンビームを使用して、半導体、金属素材などの各種材料の微細な表面加工を行うとともに、断面形状を観察することができます。 オプションとして、EDS(元素分析)、EBSD(結晶構造解析)を行うことができます。
可能な実験例
・SEM画像観察
・サンプルの電子ビーム加工
・真空中での断面加工部観察とEDS元素分析
・EBSD結晶構造解析
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