検索結果：機器訪問利用カテゴリ「スクリーニング」（1件）
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東京都
機器訪問利用
Ｘ線を試料に照射した時に発生する蛍光Ｘ線のエネルギーや強度から、物質の成分元素や構成比率を分析できる装置です。
可能な実験例
○合金めっき膜圧の測定
合金めっきをした試料材料を測定し各成分のスペクトルを分析することによって密度、付着量、膜厚を求めることができます。
○基板の電極部周辺の面分析
基板の電極部分を測定し元素マッピングすることによって金属の分布を知ることができます。
○岩石の成分分析
岩石粉体状に砕き測定することで岩石に含まれる成分の種類と量などを分析することができます
○廃液の成分分析
廃液を液体のまま測定することによって、液中に含まれる成分や量などを分析することができます。
※組織により上記実験ができない場合がございます。
