検索結果：機器訪問利用カテゴリ「電流」（13件）

・路面負荷、バッテリー状態、冷却水をコントロールし電気自動車の走行条件を台上で模擬しインバータ、モータの評価が可能

＜主性能（ダイナモ）＞
・ダイナモ：回転数±16000rpm, トルク±600Nm, 出力±
200kW

＜副性能（電源/温調装置）＞
・電源：電圧600V, 電流500A, 出力250kW
・温調装置：媒体LLC50%, 温度+20～+85℃, 流量3～40ℓ/min　
2系統(インバータ及びモータ独立温調可能)

構成設備・計測器
計測器(パワーメータ、電流、電圧センサ、オシロスコープ)は設備に付帯

事前準備
この設備は使用前に下記の準備が必要
・取り付け治具(設備側図面提供、治具制作メーカ紹介可)
・評価対象以外のモータ、インバータ(治具として)
　(評価対象がモータならインバータ、インバータならモータ)

　・出力特性
　・効率(損失)測定
　・熱性能測定
　・制御性能確認　
　・耐久試験　等

・第2のラボとして！
・研究プロジェクトを始める前の予備実験などに！
・自社で行えないサイドプロジェクトを行う場としての使用

・インバータ、モータ及びシステム(モータ+インバータ)での各種機能、性能評価機能、性能評価

バッテリー評価(専用設備）
リチウムイオン電池への充電/放電時の電流・電圧状態を再現し、電池の入出力性能や容量特性などを評価する装置

＜副性能（恒温槽）＞
恒温槽サイズ(mm)　：W600×D850×H800
恒温槽温度範囲(℃)　：-40～100

・リチウムイオン電池の入出力性能試験
・リチウムイオン電池の性能劣化試験
・電池特性取得試験　電池容量
・電池特性取得試験　SOC-OCV
・電池特性取得試験　電圧特性
・電池特性取得試験　温度特性

・第2のラボとして！
・研究プロジェクトを始める前の予備実験などに！
・自社で行えないサイドプロジェクトを行う場としての使用

・上記の試験の他に独自の充放電プログラムを作成して試験試験することが可能です

＜副性能（恒温槽）＞
恒温槽サイズ(mm)　W600×D800×H850
恒温槽温度範囲(℃)　-40～100

・リチウムイオン電池の入出力性能試験
・リチウムイオン電池の性能劣化試験
・電池特性取得試験　電池容量
・電池特性取得試験　SOC-OCV
・電池特性取得試験　電圧特性
・電池特性取得試験　温度特性

・第2のラボとして！
・研究プロジェクトを始める前の予備実験などに！
・自社で行えないサイドプロジェクトを行う場としての使用

・上記の試験の他に独自の充放電プログラムを作成して試験することが可能です

＜主性能（シミュレータ）＞
・シミュレータ：回転数0rpm,±450～15000rpm, 電流±
450Arms, 出力±150kW

＜副性能（電源/温調装置）＞
・電源：電圧700V, 電流500A, 出力200kW
・温調装置：媒体LLC50%, 温度+10～+90℃, 流量3～40ℓ/min　

構成設備・計測器
計測器(パワーメータ、電流、電圧センサ、オシロスコープ)は設備に付帯

事前準備
この設備は使用前に下記の準備が必要
・サンプル置き治具
・インバータ制御ツール

　・出力特性
　・効率(損失)測定
　・熱性能
　・耐久試験　等

・第2のラボとして！
・研究プロジェクトを始める前の予備実験などに！
・自社で行えないサイドプロジェクトを行う場としての使用

インバータの各種機能、性能評価

本装置は、インレンズサーマル電界放出形電子銃を装備した走査型電子顕微鏡です。低加速電圧時でも効率よく電流が得られるため、高分解能観察が可能です。二次電子検出器以外に反射電子検出器を備えており、試料表面の形状観察だけでなく、試料組成に関する情報も得られます。EDS、EBSDが付帯しており、元素分析や微小構造解析が行えます。

形態観察、元素分析、結晶方位解析

本装置は、全自動水平型多目的X線回折装置(XRD)です。

粉末、バルク、薄膜など多様なニーズに対応し、ガイダンス機能を持ったアプリケーションにより最適な測定条件で分析が行えます。また専用の解析アプリケーションにより定性分析、定量分析、結晶化度、配向度、結晶子サイズ分布、膜厚、残留応力など様々な解析が可能です。

・粉末、バルクの定性分析、定量分析（2θ/θ測定）
・薄膜試料の定性分析（2θ（斜入射）測定、インプレーン測定）
・結晶方位分布や配向性の分析（極点測定、ロッキングカーブ測定）
・結晶化度の分析（2θ/θ測定）
・粉末、バルクの高温での相変態、格子定数変化（温度制御2θ/θ測定）
・加工材料の残留応力分析
・単結晶基板とエピタキシャル薄膜の結晶方位関係、格子定数の解析（逆格子マップ測定）

粉末、バルク、薄膜の結晶構造解析

走査プローブ顕微鏡(SPM、AFM)は、先端の尖った探針を用いて、物質の表面をなぞるように動かして表面の微細な形状や性質を観察できる顕微鏡の一種です。光学顕微鏡や電子顕微鏡と異なり、ビームやレンズを使用しませんが、一定の条件と試料に対して原子・分子レベルの分解能を持ち、透過型電子顕微鏡に並ぶ拡大能力を持ちます。

表面形状測定、表面物性測定

(1) 海水中重金属の分析

海水中には広範囲の濃度で微量元素が含まれていて、亜鉛、ニッケル、鉛などng/L ~ μg/Lレベルの微量重金属の含有量を明らかにするためにICP質量分析を用います。
海水には数パーセントを超えるナトリウム、塩素なども含まれているため、海水をそのまま装置に導入して測定することができません。
そこでキレート樹脂分離法により測定前に海水から微量重金属を分離することを行います。海水中の重金属は有機または無機の溶存物配位子と錯体を形成している場合があるため、キレート樹脂に通す前に硝酸で処理します。
酢酸アンモニウム溶液で溶液のpHを調整したのち、重金属多価イオンと錯体を形成できる配位子をもったキレート樹脂に海水を通します。樹脂から重金属を取り出すために1~3mol/Lの希硝酸を樹脂に通します。

(2) 生体試料

生体中の微量金属と疾病の関係に調べるあたり、生体中の元素の多くはμg/L以下の極低濃度しか含まれていないので、ICP-MSのような高感度の測定が必要です。
しかし試料に由来するNa, K, Ca, S, Pなどの妨害イオンの存在により測定が困難です。そのため質量分解能が高いICP-SF-MS（二重収束型ICP-MS）を使うことで妨害を除くことができます。
硝酸や過酸化水素水によって生体試料を分解処理します。塩酸や硫酸ではSやClなどの妨害イオンが生じてしまうため使用を避けます。

(3) 半導体材料

半導体の製造ではわずかな金属汚染でもデバイスの不良につながってしまうため、微量の金属分析が極めて重要で、ICP-MSにより微量の金属分析を行えます。
シリコンをフッ化水素酸や硝酸の混酸で溶解して不純物を測定します。(このときSiF4が生成するが、沸点が-95.1℃であるため加熱して大部分を除去することができます。)

※組織により上記実験ができない場合がございます。

〇生体組織や無機マテリアルの微細構造評価

TEMの非常に高い倍率，分解能という特性から，原子レベルでの観察がおこなえます。そのため，光学顕微鏡では観察が困難な，似て非なる構造も捉えることができます。

〇免疫標識による生物のタンパク質局在解析

目的の探索物質に反応する抗体で標識することで，微細構造上でタンパク質などの探索物質の局在を観察することができます。抗体反応を色で観察することはできないため，金コロイドなどで標識する必要があります。

〇固体の結晶構造解析

試料に電子線を当てたときの回析パターンから，結晶構造を推測，決定することができます。

※組織により上記実験ができない場合がございます。