集束したイオンビームを試料に照射し、加工や観察を行う装置です。
※組織により上記実験ができない場合がございます。
物理学・化学・生物学の実験や検査などで広く用いられている、光学的性質を測定することができる装置です。
※組織により上記実験ができない場合がございます。
液体試料中の元素の定性分析・定量分析固体試料中の元素の定量分析を行う装置です。
※組織により上記実験ができない場合がございます。
飛行時間型二次イオン質量分析法(TOF-SIMS:Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry)は、固体試料にイオンビーム(一次イオン)を照射し、表面から放出されるイオン(二次イオン)を、その飛行時間差(飛行時間は重さの平方根に比例)を利用して質...
※組織により上記実験ができない場合がございます。
気体および液体の成分分析を行います。
※組織により上記実験ができない場合がございます。
工業材料のビッカース硬度測定に使う機械です。
※組織により上記実験ができない場合がございます。
X線を試料に照射した時に発生する蛍光X線のエネルギーや強度から、物質の成分元素や構成比率を分析できる装置です。
※組織により上記実験ができない場合がございます。
温度・湿度・CO2濃度を一定で安定した環境にし、細胞をより生理的条件に近い状態で培養するための装置です。(https://www.yamato-net.co.jp/qa/detail/5/)
※組織により上記実験ができない場合がございます。
DNA増幅させる装置です。
※組織により上記実験ができない場合がございます。