機器訪問利用サービスは、特定の高度な実験機器や専門的な設備を必要とする研究者や開発者に最適な選択肢です。このサービスを利用することで、自社や研究機関にない特殊な機器を、必要な期間だけ現地で利用することが可能になります。これにより、大規模な投資や長期的な契約をせずに、高度な研究や開発を行うことができます。また、現地での利用は、直接的な機器操作やその場での技術的なサポートを受けることも可能で、研究や開発の効率と精度を大幅に向上させます。
集束したイオンビームを試料に照射し、加工や観察を行う装置です。
※組織により上記実験ができない場合がございます。
料と探針の原子間にはたらく力を検出して画像を得る装置です。
※組織により上記実験ができない場合がございます。
物理学・化学・生物学の実験や検査などで広く用いられている、光学的性質を測定することができる装置です。
※組織により上記実験ができない場合がございます。
液体試料中の元素の定性分析・定量分析固体試料中の元素の定量分析を行う装置です。
※組織により上記実験ができない場合がございます。
飛行時間型二次イオン質量分析法(TOF-SIMS:Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry)は、固体試料にイオンビーム(一次イオン)を照射し、表面から放出されるイオン(二次イオン)を、その飛行時間差(飛行時間は重さの平方根に比例)を利用して質...
※組織により上記実験ができない場合がございます。