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半導体及び金属材料などの結晶構造・欠陥構造・歪みなどを解析する装置。 反射率、膜厚・配向、小角散乱による粒径/空孔分布などの測定ができます。 製品や材料の品質・性能確認、不良解析などに利用できます。
・薄膜の反射率測定 ・薄膜膜厚測定 ・液体含有物の粒径測定 ・ゲルの空孔分布 ・BB法 ・PB法 ・Inplane測定 など
・残留応力測定 ・結晶成分分析 など
電子顕微鏡として各種素材の表面を観察するだけでなく、集束イオンビームを使用して、半導体、金属素材などの各種材料の微細な表面加工を行うとともに、断面形状を観察することができます。 オプションとして、EDS(元素分析)、EBSD(結晶構造解析)を行うことができます。
・SEM画像観察 ・サンプルの電子ビーム加工 ・真空中での断面加工部観察とEDS元素分析 ・EBSD結晶構造解析
・表面観察 ・表面加工
有機分子の構造情報が得られます。
世界初、タンパク質フリー、低分子化合物による分化誘導法によりヒトiPS細胞から心筋細胞を作製します。 創薬プロセスの効率化、新薬の成功確率の向上に貢献します。
疾患モデルとして病態解析や創薬研究ツールとして利用できます
患者由来または、ゲノム編集によるモデル細胞を用いた疾患メカニズムの解析
モデル細胞を用いた創薬スクリーニング
心毒性評価
有機化合物合成/GC-MS/蛍光光度法/定量定性分析/有機化合物化学構造決定/分離分析
