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卓上SEM-EDS(TM3030、TM4000PlusⅡ) による測定

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卓上SEM-EDS(TM3030、TM4000PlusⅡ) による測定

卓上SEM-EDS(TM3030、TM4000PlusⅡ) による測定の画像1

Ic equipment spec

概要：光学顕微鏡では観察不可能な微小な表面構造を観察します。付属のエネルギー分散型X線分析装置(EDS)により、表面元素の分析（マッピングや定量）も可能です。医学・生物学・工学など様々な分野でご利用いただけます。

#卓上SEM-EDS #マッピング #定量 #元素

詳細・スペック

契約形態

備考

納期目安

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