検索結果：産学連携カテゴリ「X線」（17件）

CCD：X線回折により微小の単結晶試料（1mm以下）から化合物構造を測定します。金属から有機化合物まで広範囲の試料が測定できます。結晶構造決定のファーストチョイスです。 IP：X線回折により化合物の構造を測定します。銅線源を用いるため、天然物化学分野などで、有機化合物の絶対構造を明らかにする場...

X線回折により、粉末または平面固体試料の結晶相の同定や構造解析を行います。またデータベースとの照合により、試料中の成分（結晶相）の同定が可能です。

蛍光X線により、試料に含まれる元素の定性及び半定量分析を行う装置です。 波長分散型蛍光X線分析装置に比べて測定が簡単で、幅広い試料（食品・ 材料・産廃・文化財）の元素分析にご利用いただけます。

蛍光X線分析により高精度な元素分析（マッピング、多点、定点）を非破壊で行います。多様なサンプル形状（固体、液体、粉体、含水試料など）に対応できます。

結晶中の原子や分子の精密な立体構造を知ることができる装置です。化学、材料化学、天然物化学、薬学、金属学や鉱物学の様々な分野において重要な結晶構造について精密な情報が得られます。100から300ケルビンまでの広い温度範囲で測定が可能です。構造解析についても相談に応じます。

主な利用法は定性分析（同定）で、既知試料の回折パターンと照合することで測定試料の同定を行います。その他にも、ピークの有無や強度による結晶性や配向評価、ピーク幅による結晶子サイズを評価可能です。試料の回収が可能です。

標準物質なしで、固体および液体中のF～Uまでの元素の定性分析・半定量分析が可能

共同研究、連携研究など半年以上一緒にやりませんか

スラリーの分散性・流動性・濡れ性を評価し、電池や機能性材料の最適な配合設計や試作に活用できます。

光学顕微鏡では観察不可能な微小な表面構造を観察します。付属のエネルギー分散型X線分析装置(EDS)により、表面元素の分析（マッピングや定量）も可能です。医学・生物学・工学など様々な分野でご利用いただけます。