検索結果：委託カテゴリ「X線」（9件）

二次電池セル・パックの不具合解析を受託します。X線CT・赤外線サーモカメラ・インピーダンス測定・BMS回路解析を組み合わせ、内部状態を非破壊で可視化して原因究明を支援します。 「海外製電池の不具合品を輸送規制（IATA・フェデックス等）で現地に返送できない」という課題に対して、国内ラボで解析...

蛍光X線により、試料に含まれる元素の定性及び半定量分析を行う装置です。 エネルギー分散型蛍光X線分析装置に比べて精密な分析が可能です。 幅広い試料の元素分析にご利用いただけます。

CCD：X線回折により微小の単結晶試料（1mm以下）から化合物構造を測定します。金属から有機化合物まで広範囲の試料が測定できます。結晶構造決定のファーストチョイスです。 IP：X線回折により化合物の構造を測定します。銅線源を用いるため、天然物化学分野などで、有機化合物の絶対構造を明らかにする場...

X線回折により、粉末または平面固体試料の結晶相の同定や構造解析を行います。またデータベースとの照合により、試料中の成分（結晶相）の同定が可能です。

蛍光X線により、試料に含まれる元素の定性及び半定量分析を行う装置です。 波長分散型蛍光X線分析装置に比べて測定が簡単で、幅広い試料（食品・ 材料・産廃・文化財）の元素分析にご利用いただけます。

蛍光X線分析により高精度な元素分析（マッピング、多点、定点）を非破壊で行います。多様なサンプル形状（固体、液体、粉体、含水試料など）に対応できます。

光学顕微鏡では観察不可能な微小な表面構造を観察します。付属のエネルギー分散型X線分析装置(EDS)により、表面元素の分析（マッピングや定量）も可能です。医学・生物学・工学など様々な分野でご利用いただけます。

標準物質なしで、固体および液体中のF～Uまでの元素の定性分析・半定量分析が可能

X線を照射し，放出される光電子を分析して，被験物質の表面組成の分析を行う装置です。固体試料のみで揮発性の物質は不可。