蛍光X線により、試料に含まれる元素の定性及び半定量分析を行う装置です。 エネルギー分散型蛍光X線分析装置に比べて精密な分析が可能です。 幅広い試料の元素分析にご利用いただけます。
CCD：X線回折により微小の単結晶試料（1mm以下）から化合物構造を測定します。金属から有機化合物まで広範囲の試料が測定できます。結晶構造決定のファーストチョイスです。 IP：X線回折により化合物の構造を測定します。銅線源を用いるため、天然物化学分野などで、有機化合物の絶対構造を明らかにする場...
X線回折により、粉末または平面固体試料の結晶相の同定や構造解析を行います。またデータベースとの照合により、試料中の成分（結晶相）の同定が可能です。
蛍光X線により、試料に含まれる元素の定性及び半定量分析を行う装置です。 波長分散型蛍光X線分析装置に比べて測定が簡単で、幅広い試料（食品・ 材料・産廃・文化財）の元素分析にご利用いただけます。
光学顕微鏡では観察不可能な微小な表面構造を観察します。付属のエネルギー分散型X線分析装置(EDS)により、表面元素の分析（マッピングや定量）も可能です。医学・生物学・工学など様々な分野でご利用いただけます。
電子イメージング
例）ラット大脳皮質初代細胞のを3次元培養したスフェロイド（細胞凝集体）を観察。更に3D-SIM超解像度イメージングシステムによる解析結果と合わせることにより、スフェロイドの実際の3次元構造を確認。
