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走査電子顕微鏡（SEM-EDS）による表面形状観察・元素マッピング解析
★ 異物の表面観察・元素マッピング解析
★ 不良製品の表明形状確認 （金属粉の形態観察と材質の判別など）
走査電子顕微鏡（SEM-EDS）による表面形状観察・元素マッピング解析
★ 異物の表面観察・元素マッピング解析
★ 不良製品の表明形状確認 （金属粉の形態観察と材質の判別など）
EELS, EDSを付随したSTEM(分解能:0.08nm)による局所構造の観察
