Site logo with text

ご希望の設備/ラボが 見つからない場合は、 こちらからご要望を お聞かせください

Pic lp eyecatch inquiry

検索結果:機器訪問利用カテゴリ「走査」(17件)

    • Ic pin 神奈川県
    • 機器訪問利用

    走査型電子顕微鏡(SEM)VE-8800

    Thumb c572ec55 2c0c 4045 a221 953dc0141b83

    形態観察

    フローチャートに従いマウスをクリックするだけで簡単に操作できる走査型電子顕微鏡です。本装置は低加速電圧観察対応のため、通常のSEMに比べて非導電性試料でも試料最表面の微細な構造まで鮮明に観察することができます。

    可能な実験例

    形態観察

    • Ic pin 神奈川県
    • 機器訪問利用

    走査型電子顕微鏡(SEM)JSM-7001F

    Thumb fbb3a385 2184 433f bfb6 35891d4f6494

    形態観察、元素分析、結晶方位解析

    本装置は、インレンズサーマル電界放出形電子銃を装備した走査型電子顕微鏡です。低加速電圧時でも効率よく電流が得られるため、高分解能観察が可能です。二次電子検出器以外に反射電子検出器を備えており、試料表面の形状観察だけでなく、試料組成に関する情報も得られます。EDS、EBSDが付帯しており、元素分析や微小構造解析が行えます。

    可能な実験例

    形態観察、元素分析、結晶方位解析

    • Ic pin 神奈川県
    • 機器訪問利用

    走査型電子顕微鏡(SEM)SU8010

    Thumb 7b99289e a0bb 4118 9e55 2d40f299a934

    形態観察、元素分析

    本装置は、冷陰極電界放出形電子銃を装備した走査型電子顕微鏡です。

    セミインレンズタイプでUpper/Lowerの2つの検出器を搭載しており二次電子、反射電子の同時観察やリターディング機能により低照射電圧超高分解能観察が可能です。

    可能な実験例

    形態観察、元素分析

    • Ic pin 神奈川県
    • 機器訪問利用

    走査プローブ顕微鏡(SPM・AFM)

    Thumb 04169150 ca5b 410f 919d 7ec5a6897b1f

    物質の表面をなぞるように動かして表面の微細な形状や性質を観察できる顕微鏡

    走査プローブ顕微鏡(SPM、AFM)は、先端の尖った探針を用いて、物質の表面をなぞるように動かして表面の微細な形状や性質を観察できる顕微鏡の一種です。光学顕微鏡や電子顕微鏡と異なり、ビームやレンズを使用しませんが、一定の条件と試料に対して原子・分子レベルの分解能を持ち、透過型電子顕微鏡に並ぶ拡大能力を持ちます。

    可能な実験例

    表面形状測定、表面物性測定

    • Ic pin 神奈川県
    • 機器訪問利用

    示差走査熱量測定装置(TG-DTA)

    Thumb 3199cf53 e011 4b64 bf5a 4bf6477e3085

    示差走査熱量測定(測定試料と基準物質との間の熱量の差を計測し、融点やガラス転移点などを測定)します。

    可能な実験例

    ◯物質の熱に対する化学変化の調査

    物質を加熱し、重量変化を計測することにより、脱水、分解、燃焼、酸化、還元などの情報が得られます。例えば金属を大気雰囲気で加熱すると、酸素と反応して酸化物を形成する温度の情報が得られます。さらに高い温度まで加熱することにより、酸素の脱離する還元温度を確認できるなど、熱に対する挙動の情報が得られます。

    ◯物質の熱に対する物理変化の調査

    物質を加熱し、重量変化を計測することにより、昇華、吸着、脱着、蒸発、などの情報が得られます。例えば吸着性のあるポーラス材料を加熱すると、気体の脱離で少しずつ質量が減少し、100度付近で水分子の脱離による重量減少がみられるなど、材料の吸着能の情報が得られます。

    ◯物質の相変化温度調査

    示差熱分析により、物質の融解、ガラス転移点、結晶化、硬化、凝固温度など、相変化する温度がわかります。
    例えば有機物を加熱すると、融解に伴う吸熱ピークを確認できます。その他ポリマーの結晶化や硬化、ガラスの軟化点などの情報が得られます。

    ◯複雑な混合物の組成推定

    あらかじめ構成成分がわかっている材料の熱挙動がわかっていれば、データから成分含有量や比率の情報がえられます。例えば食品やセメントやゴムなど工業製品に対して使われることがあります。


    ※組織により上記実験ができない場合がございます。

    • Ic pin 茨城県
    • 機器訪問利用

    走査型電子顕微鏡(SEM)

    Thumb 9cf45b93 71dd 496d 968e 7857c8ddc67d

    電子線を絞って電子ビームとして対象に照射し、対象物から放出される二次電子、反射電子(後方散乱電子、BSE)、透過電子、X線、カソードルミネッセンス(蛍光)、内部起電力等を検出する事で対象を観察出来る装置です。

    可能な実験例

    〇レジストのパターン形成の観察

    露光、現像後の半導体のパターンを観察することができます。

    〇複合材料(樹脂)の断面の観察

    フィラーや強化繊維などを樹脂に分散させた際に、断面観察により分散状態を観察することができます。

    〇電極断面の観察

    LEDの金属電極断面について、低加速電圧で反射電子像を観察することにより、金属薄膜の結晶の状態を観察することができます。

    〇金属材料の破損原因の分析

    金属材料が破損した際に、原因を分析する1つの手段として、破断面の状態を観察し、原因を分析することができます。

    ※組織により上記実験ができない場合がございます。

    • Ic pin 神奈川県
    • 機器訪問利用

    【神奈川】SEM 走査型電子顕微鏡

    Thumb 97e2b5a0 7fcf 4ddb a2f3 405b9efcceb5

    電子顕微鏡として各種素材の表面を観察することができます。 オプションとして、EDS(元素分析)、CL(カソードルミネッセンス解析)を行うことができます。

    可能な実験例

    ・SEM画像観察
    ・EDS元素分析
    ・CLカソードルミネッセンス解析

    用途例

    ・表面観察

    • Ic pin 神奈川県
    • 機器訪問利用

    【神奈川】FIB/SEM 集束イオンビーム付き走査型電子顕微鏡

    Thumb 78f567ba a115 499e a123 74f8ef6ef62d

    電子顕微鏡として各種素材の表面を観察するだけでなく、集束イオンビームを使用して、半導体、金属素材などの各種材料の微細な表面加工を行うとともに、断面形状を観察することができます。 オプションとして、EDS(元素分析)、EBSD(結晶構造解析)を行うことができます。

    可能な実験例

    ・SEM画像観察
    ・サンプルの電子ビーム加工
    ・真空中での断面加工部観察とEDS元素分析
    ・EBSD結晶構造解析

    用途例

    ・表面観察
    ・表面加工

    • Ic pin 神奈川県
    • 機器訪問利用

    【神奈川】SPM-E-sweep 走査型プローブ顕微鏡 (環境制御型SPM)

    Thumb f2a8626b 1860 4757 8d62 076f430a8133

    接触または非接触(DFMのみ)により微小形状を測定することができる測定器です。 測定環境を真空に引いたり、加熱、冷却することがでます。 また、特殊なプローブを用意することにより、摩擦力や磁気マップなどを測定可能です。

    可能な実験例

    ・微細加工の実態状況や不良分析
    ・化合物の状態分析/評価
    ・微小形状測定、表面粗さ測定
    など

    用途例

    ・室温、大気圧下での形状測定
    ・接触または非接触測定

    測定チャンバー内を真空に引いたり、試料台を冷却、加熱して測定することが可能です。

    • Ic pin 神奈川県
    • 機器訪問利用

    【神奈川】SPM-Nanocute 走査型プローブ顕微鏡 (汎用型SPM)

    Thumb aaf188fe b43d 4b63 8996 bfd508a19ba9

    接触または非接触(DFMのみ)により微小形状を測定することができる測定器です。

    可能な実験例

    ・微細加工の実態状況や不良分析
    ・化合物の状態分析/評価
    微小形状測定、表面粗さ測定
    など

    用途例

    ・室温、大気圧下での形状測定
    ・接触または非接触測定

ご希望の設備/ラボが 見つからない場合は、 こちらからご要望を お聞かせください

Pic lp eyecatch inquiry