検索結果:すべてのカテゴリ「電子顕微鏡」(27件)
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走査型電子顕微鏡(SEM)VE-8800
神奈川県
機器訪問利用
おすすめ
フローチャートに従いマウスをクリックするだけで簡単に操作できる走査型電子顕微鏡です。本装置は低加速電圧観察対応のため、通常のSEMに比べて非導電性試料でも試料最表面の微細な構造まで鮮明に観察することができます。
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走査型電子顕微鏡(SEM)JSM-7001F
神奈川県
機器訪問利用
おすすめ
本装置は、インレンズサーマル電界放出形電子銃を装備した走査型電子顕微鏡です。低加速電圧時でも効率よく電流が得られるため、高分解能観察が可能です。二次電子検出器以外に反射電子検出器を備えており、試料表面の形状観察だけでなく、試料組成に関する情報も得られます。EDS、EBSDが付帯しており、元素分析や微小構造解析が行えます。
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走査型電子顕微鏡(SEM)SU8010
神奈川県
機器訪問利用
おすすめ
本装置は、冷陰極電界放出形電子銃を装備した走査型電子顕微鏡です。
セミインレンズタイプでUpper/Lowerの2つの検出器を搭載しており二次電子、反射電子の同時観察やリターディング機能により低照射電圧超高分解能観察が可能です。
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神奈川県
機器訪問利用
おすすめ
本装置は、冷陰極電界放出形電子銃を装備した走査型電子顕微鏡です。
セミインレンズタイプでUpper/Lowerの2つの検出器を搭載しており二次電子、反射電子の同時観察やリターディング機能により低照射電圧超高分解能観察が可能です。
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透過型電子顕微鏡(TEM):JEM-2100F
神奈川県
機器訪問利用
おすすめ
電子顕微鏡は、光の代わりに電子(電子線)をあてて拡大する顕微鏡のことです。観察物質の構造や構成成分の違いにより電子線の透過能が異なるので、場所による透過電子の密度の違いを透過顕微鏡像として得ます。透過型電子顕微鏡では、極薄い試料を用いますが、数十万倍にも拡大した像を得ることができます。さらに、原子の周期的な配列に対応した回折現象を利用して、電子回折像が得られます。これは、物質(試料)の性質、特に結晶構造や格子欠陥に関わる重要な情報です。
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【異物・不良解析】走査電子顕微鏡(SEM-EDS)による表面形状観察・元素マッピング解析
走査電子顕微鏡(SEM-EDS)による表面形状観察・元素マッピング解析
用途例
★ 異物の表面観察・元素マッピング解析
★ 不良製品の表明形状確認 (金属粉の形態観察と材質の判別など)
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高分解能透過電子顕微鏡(HR-TEM)
神奈川県
機器訪問利用
固体物質の内部組織、形態、原子配列(格子像)などの観察や、結晶構造同定、EDS組成分析が可能です。
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透過電子顕微鏡(TEM)
東京都
機器訪問利用
観察対象に電子線をあて、透過した電子線の強弱から観察対象内の電子透過率の空間分布を観察する装置です。
可能な実験例
〇生体組織や無機マテリアルの微細構造評価
TEMの非常に高い倍率,
分解能という
特性から,原子レベルでの観察がおこなえます。そのため,
光学顕微鏡では観察が困難な,似て非なる
構造も捉えることができます。
目的の
探索物質に反応する
抗体で標識することで,微細
構造上で
タンパク質などの
探索物質の局在を観察することができます。
抗体反応を色で観察することはできないため,金コロイドなどで標識する必要があります。
試料に
電子線を当てたときの回析パターンから,
結晶構造を推測,決定することができます。
※組織により上記実験ができない場合がございます。
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東京都
機器訪問利用
観察対象に電子線をあて、透過した電子線の強弱から観察対象内の電子透過率の空間分布を観察する装置です。
可能な実験例
〇生体組織や無機マテリアルの微細構造評価
TEMの非常に高い倍率,
分解能という
特性から,原子レベルでの観察がおこなえます。そのため,
光学顕微鏡では観察が困難な,似て非なる
構造も捉えることができます。
目的の
探索物質に反応する
抗体で標識することで,微細
構造上で
タンパク質などの
探索物質の局在を観察することができます。
抗体反応を色で観察することはできないため,金コロイドなどで標識する必要があります。
試料に
電子線を当てたときの回析パターンから,
結晶構造を推測,決定することができます。
※組織により上記実験ができない場合がございます。
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走査型電子顕微鏡(SEM)
茨城県
機器訪問利用
電子線を絞って電子ビームとして対象に照射し、対象物から放出される二次電子、反射電子(後方散乱電子、BSE)、透過電子、X線、カソードルミネッセンス(蛍光)、内部起電力等を検出する事で対象を観察出来る装置です。
可能な実験例
〇レジストのパターン形成の観察
露光、現像後の
半導体のパターンを観察することができます。
〇複合材料(樹脂)の断面の観察
フィラーや強化
繊維などを
樹脂に
分散させた際に、断面観察により
分散状態を観察することができます。
〇電極断面の観察
LEDの金属
電極断面について、低加速
電圧で反射電子像を観察することにより、金属
薄膜の
結晶の状態を観察することができます。
〇金属材料の破損原因の分析
金属材料が破損した際に、原因を分析する1つの手段として、破断面の状態を観察し、原因を分析することができます。
※組織により上記実験ができない場合がございます。
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茨城県
機器訪問利用
電子線を絞って電子ビームとして対象に照射し、対象物から放出される二次電子、反射電子(後方散乱電子、BSE)、透過電子、X線、カソードルミネッセンス(蛍光)、内部起電力等を検出する事で対象を観察出来る装置です。
可能な実験例
〇レジストのパターン形成の観察
露光、現像後の
半導体のパターンを観察することができます。
〇複合材料(樹脂)の断面の観察
フィラーや強化
繊維などを
樹脂に
分散させた際に、断面観察により
分散状態を観察することができます。
〇電極断面の観察
LEDの金属
電極断面について、低加速
電圧で反射電子像を観察することにより、金属
薄膜の
結晶の状態を観察することができます。
〇金属材料の破損原因の分析
金属材料が破損した際に、原因を分析する1つの手段として、破断面の状態を観察し、原因を分析することができます。
※組織により上記実験ができない場合がございます。