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検索結果:すべてのカテゴリ「電子顕微鏡」(27件)

  • 走査型電子顕微鏡(SEM)VE-8800

    神奈川県
    機器訪問利用

    形態観察

    可能な実験例

    • 神奈川県
    • 機器訪問利用

    走査型電子顕微鏡(SEM)VE-8800

    形態観察

    フローチャートに従いマウスをクリックするだけで簡単に操作できる走査型電子顕微鏡です。本装置は低加速電圧観察対応のため、通常のSEMに比べて非導電性試料でも試料最表面の微細な構造まで鮮明に観察することができます。

    可能な実験例

  • 走査型電子顕微鏡(SEM)JSM-7001F

    神奈川県
    機器訪問利用

    形態観察、元素分析、結晶方位解析

    可能な実験例

    形態観察、元素分析、結晶方位解析

    • 神奈川県
    • 機器訪問利用

    走査型電子顕微鏡(SEM)JSM-7001F

    形態観察、元素分析、結晶方位解析

    本装置は、インレンズサーマル電界放出形電子銃を装備した走査型電子顕微鏡です。低加速電圧時でも効率よく電流が得られるため、高分解能観察が可能です。二次電子検出器以外に反射電子検出器を備えており、試料表面の形状観察だけでなく、試料組成に関する情報も得られます。EDS、EBSDが付帯しており、元素分析や微小構造解析が行えます。

    可能な実験例

    形態観察、元素分析、結晶方位解析

  • 走査型電子顕微鏡(SEM)SU8010

    神奈川県
    機器訪問利用

    形態観察、元素分析

    可能な実験例

    • 神奈川県
    • 機器訪問利用

    走査型電子顕微鏡(SEM)SU8010

    形態観察、元素分析

    本装置は、冷陰極電界放出形電子銃を装備した走査型電子顕微鏡です。

    セミインレンズタイプでUpper/Lowerの2つの検出器を搭載しており二次電子、反射電子の同時観察やリターディング機能により低照射電圧超高分解能観察が可能です。

    可能な実験例

  • 透過型電子顕微鏡(TEM):JEM-2100F

    神奈川県
    機器訪問利用

    形態観察、結晶構造解析、元素分析

    • 神奈川県
    • 機器訪問利用

    透過型電子顕微鏡(TEM):JEM-2100F

    形態観察、結晶構造解析、元素分析

    電子顕微鏡は、光の代わりに電子(電子線)をあてて拡大する顕微鏡のことです。観察物質の構造や構成成分の違いにより電子線の透過能が異なるので、場所による透過電子の密度の違いを透過顕微鏡像として得ます。透過型電子顕微鏡では、極薄い試料を用いますが、数十万倍にも拡大した像を得ることができます。さらに、原子の周期的な配列に対応した回折現象を利用して、電子回折像が得られます。これは、物質(試料)の性質、特に結晶構造や格子欠陥に関わる重要な情報です。

  • 【異物・不良解析】走査電子顕微鏡(SEM-EDS)による表面形状観察・元素マッピング解析

    委託

    走査電子顕微鏡(SEM-EDS)による表面形状観察・元素マッピング解析

    用途例

    ★ 異物の表面観察・元素マッピング解析
    ★ 不良製品の表明形状確認 (金属粉の形態観察と材質の判別など)

    • 委託

    【異物・不良解析】走査電子顕微鏡(SEM-EDS)による表面形状観察・元素マッピング解析

    走査電子顕微鏡(SEM-EDS)による表面形状観察・元素マッピング解析

    用途例

    ★ 異物の表面観察・元素マッピング解析
    ★ 不良製品の表明形状確認 (金属粉の形態観察と材質の判別など)

  • サーマル電界放出形走査電子顕微鏡

    産学連携
    委託

    電子イメージング

    用途例

    例)ラット大脳皮質初代細胞のを3次元培養したスフェロイド(細胞凝集体)を観察。更に3D-SIM超解像度イメージングシステムによる解析結果と合わせることにより、スフェロイドの実際の3次元構造を確認。

    • 産学連携
      委託

    サーマル電界放出形走査電子顕微鏡

    電子イメージング

    用途例

    例)ラット大脳皮質初代細胞のを3次元培養したスフェロイド(細胞凝集体)を観察。更に3D-SIM超解像度イメージングシステムによる解析結果と合わせることにより、スフェロイドの実際の3次元構造を確認。

  • 電子顕微鏡による撮像・元素分析

    産学連携
    委託

    EELS, EDSを付随したSTEM(分解能:0.08nm)による局所構造の観察

    • 産学連携
      委託

    電子顕微鏡による撮像・元素分析

    EELS, EDSを付随したSTEM(分解能:0.08nm)による局所構造の観察

  • 高分解能透過電子顕微鏡(HR-TEM)

    神奈川県
    機器訪問利用

    固体物質の内部組織、形態、原子配列(格子像)などの観察や、結晶構造同定、EDS組成分析が可能です。

    • 神奈川県
    • 機器訪問利用

    高分解能透過電子顕微鏡(HR-TEM)

    固体物質の内部組織、形態、原子配列(格子像)などの観察や、結晶構造同定、EDS組成分析が可能です。

  • 透過電子顕微鏡(TEM)

    東京都
    機器訪問利用

    観察対象に電子線をあて、透過した電子線の強弱から観察対象内の電子透過率の空間分布を観察する装置です。

    可能な実験例

    〇生体組織や無機マテリアルの微細構造評価

    TEMの非常に高い倍率,分解能という特性から,原子レベルでの観察がおこなえます。そのため,光学顕微鏡では観察が困難な,似て非なる構造も捉えることができます。

    〇免疫標識による生物のタンパク質局在解析

    目的の探索物質に反応する抗体で標識することで,微細構造上でタンパク質などの探索物質の局在を観察することができます。抗体反応を色で観察することはできないため,金コロイドなどで標識する必要があります。

    〇固体の結晶構造解析

    試料に電子線を当てたときの回析パターンから,結晶構造を推測,決定することができます。


    ※組織により上記実験ができない場合がございます。

    • 東京都
    • 機器訪問利用

    透過電子顕微鏡(TEM)

    観察対象に電子線をあて、透過した電子線の強弱から観察対象内の電子透過率の空間分布を観察する装置です。

    可能な実験例

    〇生体組織や無機マテリアルの微細構造評価

    TEMの非常に高い倍率,分解能という特性から,原子レベルでの観察がおこなえます。そのため,光学顕微鏡では観察が困難な,似て非なる構造も捉えることができます。

    〇免疫標識による生物のタンパク質局在解析

    目的の探索物質に反応する抗体で標識することで,微細構造上でタンパク質などの探索物質の局在を観察することができます。抗体反応を色で観察することはできないため,金コロイドなどで標識する必要があります。

    〇固体の結晶構造解析

    試料に電子線を当てたときの回析パターンから,結晶構造を推測,決定することができます。


    ※組織により上記実験ができない場合がございます。

  • 走査型電子顕微鏡(SEM)

    茨城県
    機器訪問利用

    電子線を絞って電子ビームとして対象に照射し、対象物から放出される二次電子、反射電子(後方散乱電子、BSE)、透過電子、X線、カソードルミネッセンス(蛍光)、内部起電力等を検出する事で対象を観察出来る装置です。

    可能な実験例

    〇レジストのパターン形成の観察

    露光、現像後の半導体のパターンを観察することができます。

    〇複合材料(樹脂)の断面の観察

    フィラーや強化繊維などを樹脂に分散させた際に、断面観察により分散状態を観察することができます。

    〇電極断面の観察

    LEDの金属電極断面について、低加速電圧で反射電子像を観察することにより、金属薄膜の結晶の状態を観察することができます。

    〇金属材料の破損原因の分析

    金属材料が破損した際に、原因を分析する1つの手段として、破断面の状態を観察し、原因を分析することができます。

    ※組織により上記実験ができない場合がございます。

    • 茨城県
    • 機器訪問利用

    走査型電子顕微鏡(SEM)

    電子線を絞って電子ビームとして対象に照射し、対象物から放出される二次電子、反射電子(後方散乱電子、BSE)、透過電子、X線、カソードルミネッセンス(蛍光)、内部起電力等を検出する事で対象を観察出来る装置です。

    可能な実験例

    〇レジストのパターン形成の観察

    露光、現像後の半導体のパターンを観察することができます。

    〇複合材料(樹脂)の断面の観察

    フィラーや強化繊維などを樹脂に分散させた際に、断面観察により分散状態を観察することができます。

    〇電極断面の観察

    LEDの金属電極断面について、低加速電圧で反射電子像を観察することにより、金属薄膜の結晶の状態を観察することができます。

    〇金属材料の破損原因の分析

    金属材料が破損した際に、原因を分析する1つの手段として、破断面の状態を観察し、原因を分析することができます。

    ※組織により上記実験ができない場合がございます。

ご希望の設備/ラボが 見つからない場合は、 こちらからご要望を お聞かせください