検索結果：すべてのカテゴリ「薄膜」（23件）

・機器の持ち込み可
・廃液の対応可（水銀、シアン、クロム、鉛などは不可。通常のハロゲン系有機系溶媒、水溶液は可能。）

・研究開発向けの有機合成・反応検討
・有機材料の精製・溶媒除去
・スピンコートや蒸着による有機薄膜形成
・有機合成実験
・有機薄膜デバイスの試作
・電気特性・膜厚などの物性評価

・開発用途に
・探索研究に
・試作評価に

・機器の持ち込み可
・廃液処理可

薄膜コーティング
薄膜作製前処理
薄膜測定
薄膜試作

・廃液の対応可能
・機器の持ち込み可能
・技術指導可能

・有機分子の合成・精製
・パイ系化合物の合成、評価
・酸化還元挙動や電気化学的安定性の解析
・分子の光応答・電気応答挙動のその場観察
・電子材料としての適性検討や基礎デバイス評価

・基礎研究の実験
・開発フェーズの検証
・共同研究・技術検討

★廃液の対応可能
★機器の持ち込み可能
★都内からのアクセス抜群
★リチウムイオン電池・全固体電池の電極材料開発や、ナノ材料の設計・評価に関する学術指導が可能です

・全固体電池の試作実験
・電極材料の充放電評価
・薄膜成膜と乾燥処理
・光吸収特性の測定
・粒子分散性の比較実験

第2のラボとして！
試作と簡易評価を一貫して実施！
自社で行えないサイドプロジェクトの場として！

★機器の持ち込み可能
★廃液対応可能
★試作→物性→性能の評価が一カ所で完結！

レーザー堆積薄膜作製実験/真空蒸着（Au, Al）/シリコンウエアのQSSPC（少数キャリアライフタイム）測定/太陽電池特性測定（5×5 cm²以内）/Hall測定

もうひとつの研究拠点として活用できるラボ
新テーマの立ち上げや予備検証に最適な実験環境
自社でできない“ちょっとした試作”を後押しする場

機器の持ち込み 可能
ラボ駐車場利用可能

パルス光での瞬間熱処理による試料の改質（結晶化、導電性向上、光学物性変化）

受託試験用

・【希少】クロマト専門家へ直接相談できる：液体クロマトグラフィーのカラム作製やGPC技術について、在籍する専門家への相談・技術指導が受けられる。知識を持つ人が常駐しているラボは非常に珍しい。

・【受託対応】SEM撮影・HPLC測定・細孔径分布測定を外注なしで完結：レンタル利用に加え、FE-SEMによる画像撮影、HPLC測定、水銀圧入／窒素吸着による細孔径分布測定、粒子径分布測定の受託にも対応。試験の発注窓口を一本化できる。

・【柔軟な受入】土日祝対応・機器持ち込み可：平日以外の利用や、自社機器の持ち込みにも対応。プロジェクトのスケジュールに合わせた利用が可能。

・【廃液処理対応】実験後の廃液処理も相談可：廃液対応あり（大量の場合は別料金）。廃棄物処理を自社で手配する手間を省ける。

・【居室・Wi-Fiあり】実験と事務作業を同じ拠点でこなせる：シェア居室・ラボWi-Fiを完備。滞在しながら作業できる環境を提供。

・有機合成実験（ドラフト・窒素ライン使用）
・高分子合成・ポリマー合成（IPA・メタノール・エタノール・アセトン等の有機溶剤使用可）
・FE-SEM撮影（走査型電子顕微鏡による表面観察・受託可）
・HPLC測定・分析（受託可）
・GPC測定（分子量分布測定）
・液体クロマトグラフィー用カラム作製・評価
・水銀圧入法による細孔径分布測定（受託可）
・窒素吸着法による細孔径分布測定・BET比表面積測定（受託可）
・粒子径分布測定（受託可）
・スピンコーティング（薄膜形成）
・材料の加熱処理・耐熱試験（電気炉使用）

・自社にドラフトや廃液処理設備がなく、有機溶剤を使った有機合成実験をスポットで行いたい企業研究者
・新素材開発の一環でFE-SEM撮影・粒子径分布測定・細孔径測定を同一拠点で完結させたい材料系スタートアップ
・HPLCカラムの開発・評価において、クロマト専門家へ技術相談しながら実験を進めたい研究開発チーム

・機器の持ち込み可能
・廃液処理対応も可能
・委託実験については要相談
・技術指導については要相談
・居室有
・最先端機器（TEM、SEM）や、デバイス作製用クリーンルーム、バイオ実験室完備

・ナノエレクトロニクス材料作製・評価
・DNA、細胞培養、たんぱく質の解析、形態観察
・ナノカーボン材料合成、評価（フラーレン、カーボンナノチューブ、ナノグラファイト、グラフェン）
・バイオ、ナノ融合研究

・バイオセンサ開発
・マイクロ流路作製
・電子デバイス作製
・電子線描画装置によるレジストパーターン作製
・FIBを利用したTEM用薄膜作製
・コバルト内包カーボンナノアニオンのTEM像と制限視野回折観察
・空中配線された量子ドットを有するナノ電子デバイスのSEM観察
・デオキシリボ核酸（DNA）のAFM観察
・CMCマグネティックナノ粒子のFT-IR分析
・単層CNTのラマンマッピング
・量子ドットの励起蛍光すペクトル（NIR-PLE）
・XPSによるグラフェン構造の評価
・オージェ電子分光による酸化グラフェンの薄膜依存性
・飛行時間型二次イオン質量分析装置によるSiとO元素の深さ方向分布
・超電導材料の磁気特性（SQUID/VSM)測定
・硫酸銅のTG-DTA曲線
・カーボン材料の窒素ガス吸脱等温線（比表面積細孔分布計測）
・核およびアクチンフィラメントを蛍光染色した食道がん細胞の共焦点レーザー顕微鏡観察
・アポトーシスを起こしたJurket Cellsの蛍光染（セルソータ）
・ポリイプシロンカプロラクトンのMALDI-TOF-MSによる構造解析

赤外吸収分光計(IR)はサンプルに赤外線を照射し、それによるサンプルの物質がどの周波数（通常は波数）の赤外線を吸収しているかを測定する装置です。分子や原子はそれぞれ固有の振動をしていますが、波長（スペクトル上では波数）を連続的に変化させながら赤外線(infrared : IR)を照射すれば、分子の固有振動と同じ周波数のIRが吸収され、分子の構造に応じたスペクトルが得られるはずです。これにより、サンプルが予測できるものであれば、既知のスペクトルと比較して、同定、確認ができますし、また、多重結合、官能基、シス－トランス異性、水素結合などの分子構造に関する知見を得ることもできます。
なお、実際の測定原理は干渉計を利用したフーリエ分光法を用いていて、より高い波数の再現性を持っています。現在はこれらのFT-IRが一般的になっています。検出器は、焦電型のDTGS検出器と、半導体型のMCT検出器を備え、高感度分析にも対応しています。

試料は、サンプルセルを換えることにより、固体、液体の状態で測定できます。通常、固体はサンプルをKBrに分散させるKBr法、液体は原液のまま測定する液膜法と溶媒に溶かす溶液法を用います。また、1回反射ATRユニットや高感度反射ユニットを用いることで固体、液体、フィルム状など、様々な状態の試料にも対応できます。その他、顕微IR用の顕微鏡アタッチメントを比較的簡単に据え付けることができ、微少領域の測定をすることが可能です。

有機化合物の構造解析、材料の表面・バルク分析、マイクロ粒子の分析

・透過法セルホルダや各種ユニットを使用することで、様々な試料状態（液体・粉末・固形物・気体など）の非破壊による測定ができて、試料の分子構造解析ができます。
・スペクトルデータと比較することにより、成分分析ができることがあります（ただし、付属のデータベースはないため別途スペクトルデータが必要です）。
・顕微法を用いることにより、10μm以上のサイズの粒子などを分析することができます。
・高分子材料の表面・バルクの分析をすることができます。
・高感度反射測定により、金属表面の分子膜などを測定できます。

溶液、薄膜等の紫外～可視光域（190～900nm）での吸光度を測定します。ダブルビーム方式であるため、シングルビームより安定度の高い、研究向けの装置です。
物質の光学特性の評価だけでなく、薄膜の膜厚や、コロイド結晶の配列状態を調べたりするのに活躍しています。

化合物の光学特性の測定、公定法による定量