検索結果：すべてのカテゴリ「アプリケーション」（3件）

①リサーチャー自らエンジニアとタッグを組んで研究を支援。通常のソフトウェアメーカーよりもスムーズなコミュニケーションや現役研究者が担当するからこそ、「かゆいところに手が届く」サポートが可能です。

②脳・神経科学、画像解析を中心とした豊富な解析経験、ソフトウェア開発実績あり

①取得したデータを研究室内で整理したい時に
②解析環境を研究室で統一・記録して残しておきたいしたい時に
③ご自身の解析を世界に発信したい時に（Webアプリとして公開する事が可能です。もちろん、研究室内のみでのご利用も可能です）

【ソフトウェアを作成するからこそできること】
・GUI ワークフロー
コードではなく、視認性が高いGUI、ローコードでの解析設計を開発する事で、研究室に入りたての学生さんも快適に解析ができます。
・Visualize
ワンクリックで簡単に解析結果を可視化。ご要望に応じ多彩なプロットオプションを提供します。
・Record
ワークフローを記録し、再現・共有をしやすくすることで、
「あのとき解析した手法」をもう一度試すしたり、改善しやすくなります。
・Share
Web解析のアプリケーションとし、論文に記載をする事で、ご自身の解析方法を世界に発信/デファクトスタンダードとする第一歩となります。

本装置は、全自動水平型多目的X線回折装置(XRD)です。

粉末、バルク、薄膜など多様なニーズに対応し、ガイダンス機能を持ったアプリケーションにより最適な測定条件で分析が行えます。また専用の解析アプリケーションにより定性分析、定量分析、結晶化度、配向度、結晶子サイズ分布、膜厚、残留応力など様々な解析が可能です。

・粉末、バルクの定性分析、定量分析（2θ/θ測定）
・薄膜試料の定性分析（2θ（斜入射）測定、インプレーン測定）
・結晶方位分布や配向性の分析（極点測定、ロッキングカーブ測定）
・結晶化度の分析（2θ/θ測定）
・粉末、バルクの高温での相変態、格子定数変化（温度制御2θ/θ測定）
・加工材料の残留応力分析
・単結晶基板とエピタキシャル薄膜の結晶方位関係、格子定数の解析（逆格子マップ測定）

粉末、バルク、薄膜の結晶構造解析