地域

検索結果：すべてのカテゴリ「薄膜」（23件）

- 茨城県
走査型電子顕微鏡(SEM)

電子線を絞って電子ビームとして対象に照射し、対象物から放出される二次電子、反射電子（後方散乱電子、BSE）、透過電子、X線、カソードルミネッセンス（蛍光）、内部起電力等を検出する事で対象を観察出来る装置です。

可能な実験例

〇レジストのパターン形成の観察
露光、現像後の半導体のパターンを観察することができます。
〇複合材料(樹脂)の断面の観察
フィラーや強化繊維などを樹脂に分散させた際に、断面観察により分散状態を観察することができます。
〇電極断面の観察
LEDの金属電極断面について、低加速電圧で反射電子像を観察することにより、金属薄膜の結晶の状態を観察することができます。
〇金属材料の破損原因の分析
金属材料が破損した際に、原因を分析する1つの手段として、破断面の状態を観察し、原因を分析することができます。

※組織により上記実験ができない場合がございます。
もっと見る
お気に入りに追加

詳細を確認する
- 茨城県
X線回折装置（XRD）

化合物の同定・定量分析や、結晶構造の解析を行うことができます。

可能な実験例

試料の定性・定量分析・相同定
粉末X線回折法により得られた回折パターンを、既知物質の回折パターンと比較することで試料の定性・定量分析や相同定をすることができます。

格子定数・イオン半径・原子座標位置の算出
粉末X線回折法により得られた回折パターンのフィッテングを行うことで、試料の格子定数・イオン半径・原子座標位置を算出することができます。

分子の三次元構造の決定
単結晶 X線回折法により得られた回折パターンから、分子の三次元構造を決定することができます。

試料の格子歪・残留応力の測定
X線回折法により得られた回折パターンから、ピーク位置のずれや幅を測定することで試料の格子歪・残留応力の算出をすることができます。

結晶方位の測定
試料に照射するX線の角度を変化させながら、任意の結晶方位の回折ピークを測定することで試料の結晶方位を測定することができます。

結晶配向性の測定
特定のピーク位置における回折強度分布を測定することで、結晶の配向性を測定することができます。

※組織により上記実験ができない場合がございます。
もっと見る
お気に入りに追加

詳細を確認する
- 神奈川県
【神奈川】XRD 多目的X線回折装置

半導体及び金属材料などの結晶構造・欠陥構造・歪みなどを解析する装置。反射率、膜厚・配向、小角散乱による粒径/空孔分布などの測定ができます。製品や材料の品質・性能確認、不良解析などに利用できます。

可能な実験例

・薄膜の反射率測定
・薄膜膜厚測定
・液体含有物の粒径測定
・ゲルの空孔分布
・BB法
・PB法
・Inplane測定
など

用途例

・残留応力測定
・結晶成分分析
など
もっと見る
お気に入りに追加

詳細を確認する

検索結果：すべてのカテゴリ「薄膜」（23件）

走査型電子顕微鏡(SEM)

可能な実験例

〇レジストのパターン形成の観察

〇複合材料(樹脂)の断面の観察

〇電極断面の観察

〇金属材料の破損原因の分析

X線回折装置（XRD）

可能な実験例

試料の定性・定量分析・相同定

格子定数・イオン半径・原子座標位置の算出

分子の三次元構造の決定

試料の格子歪・残留応力の測定

結晶方位の測定

結晶配向性の測定

【神奈川】XRD 多目的X線回折装置

可能な実験例

用途例