蛍光X線により、試料に含まれる元素の定性及び半定量分析を行う装置です。 エネルギー分散型蛍光X線分析装置に比べて精密な分析が可能です。 幅広い試料の元素分析にご利用いただけます。
CCD:X線回折により微小の単結晶試料(1mm以下)から化合物構造を測定します。金属から有機化合物まで広範囲の試料が測定できます。結晶構造決定のファーストチョイスです。 IP:X線回折により化合物の構造を測定します。銅線源を用いるため、天然物化学分野などで、有機化合物の絶対構造を明らかにする場...
X線回折により、粉末または平面固体試料の結晶相の同定や構造解析を行います。またデータベースとの照合により、試料中の成分(結晶相)の同定が可能です。
蛍光X線により、試料に含まれる元素の定性及び半定量分析を行う装置です。 波長分散型蛍光X線分析装置に比べて測定が簡単で、幅広い試料(食品・ 材料・産廃・文化財)の元素分析にご利用いただけます。
結晶中の原子や分子の精密な立体構造を知ることができる装置です。化学、材料化学、天然物化学、薬学、金属学や鉱物学の様々な分野において重要な結晶構造について精密な情報が得られます。100から300ケルビンまでの広い温度範囲で測定が可能です。構造解析についても相談に応じます。
粉末、バルク、薄膜の結晶構造解析
本装置は、全自動水平型多目的X線回折装置(XRD)です。
粉末、バルク、薄膜など多様なニーズに対応し、ガイダンス機能を持ったアプリケーションにより最適な測定条件で分析が行えます。また専用の解析アプリケーションにより定性分析、定量分析、結晶化度、配向度、結晶子サイズ分布、膜厚、残留応力など様々な解析が可能です。
・粉末、バルクの定性分析、定量分析(2θ/θ測定)
・薄膜試料の定性分析(2θ(斜入射)測定、インプレーン測定)
・結晶方位分布や配向性の分析(極点測定、ロッキングカーブ測定)
・結晶化度の分析(2θ/θ測定)
・粉末、バルクの高温での相変態、格子定数変化(温度制御2θ/θ測定)
・加工材料の残留応力分析
・単結晶基板とエピタキシャル薄膜の結晶方位関係、格子定数の解析(逆格子マップ測定)