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蛍光X線により、試料に含まれる元素の定性及び半定量分析を行う装置です。 エネルギー分散型蛍光X線分析装置に比べて精密な分析が可能です。 幅広い試料の元素分析にご利用いただけます。

CCD：X線回折により微小の単結晶試料（1mm以下）から化合物構造を測定します。金属から有機化合物まで広範囲の試料が測定できます。結晶構造決定のファーストチョイスです。 IP：X線回折により化合物の構造を測定します。銅線源を用いるため、天然物化学分野などで、有機化合物の絶対構造を明らかにする場...

X線回折により、粉末または平面固体試料の結晶相の同定や構造解析を行います。またデータベースとの照合により、試料中の成分（結晶相）の同定が可能です。

蛍光X線により、試料に含まれる元素の定性及び半定量分析を行う装置です。 波長分散型蛍光X線分析装置に比べて測定が簡単で、幅広い試料（食品・ 材料・産廃・文化財）の元素分析にご利用いただけます。

蛍光X線分析により高精度な元素分析（マッピング、多点、定点）を非破壊で行います。多様なサンプル形状（固体、液体、粉体、含水試料など）に対応できます。

結晶中の原子や分子の精密な立体構造を知ることができる装置です。化学、材料化学、天然物化学、薬学、金属学や鉱物学の様々な分野において重要な結晶構造について精密な情報が得られます。100から300ケルビンまでの広い温度範囲で測定が可能です。構造解析についても相談に応じます。

主な利用法は定性分析（同定）で、既知試料の回折パターンと照合することで測定試料の同定を行います。その他にも、ピークの有無や強度による結晶性や配向評価、ピーク幅による結晶子サイズを評価可能です。試料の回収が可能です。

粉末、バルク、薄膜の結晶構造解析

Ｘ線照射により放出される光電子の運動エネルギー分布を測定し、試料表面の元素の種類・存在量・化学結合状態を調べる装置です。

Ｘ線を試料に照射した時に発生する蛍光Ｘ線のエネルギーや強度から、物質の成分元素や構成比率を分析できる装置です。