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検索結果:すべてのカテゴリ「X線」(29件)

    • 東京都
    • レンタルラボ

    【東京・新宿】二次電池セル・パック専用評価ラボ — 充放電恒温槽・X線CT・静電気試験装置を完備

    二次電池の評価・試験に特化した専用ラボです。充放電機能付き恒温槽・X線CT・静電気試験装置など、セルメーカー・公的評価機関クラスの設備を保有したラボです。 自社設備が埋まっているタイミングや、新規事業で電池評価環境を急ぎ整えたい場合に、柔軟に対応します。技術者が直接来訪して設備を操作するスタ...

    ・最大72セル同時試験が可能な充放電専用恒温槽を保有。
    ・24時間無人連続運転対応(自動消火CO₂・警備会社連携)。長期サイクル試験を「預けて走らせ続ける」使い方が可能。
    ・静電気試験は技術者が来訪のうえ、その場で壊れた製品を修理→再試験→修理を繰り返せる環境。設備を使いながら製品を仕上げていくスタイルに対応。
    ・X線CTで電池パック・セルの内部を3D非破壊検査。不具合解析や構造確認がその場で完結。
    ・東京都心の立地。打ち合わせ帰りや急なサンプル評価にもアクセスしやすい。

    可能な実験例

    二次電池セルの充放電サイクル試験(容量・電圧・表面温度の記録
    電池パックの充放電試験(大型24〜48V系、AGV・フォークリフト用途、大型ポータブル電源
    ・セル・パックのインピーダンス(内部抵抗)測定
    X線CT非破壊検査による内部構造確認・不具合解析
    静電気イミュニティ試験(その場で修理→再試験のループも可)
    赤外線サーモグラフィによる発熱部位特定・温度分布解析
    ・BMS回路波形解析・絶縁抵抗試験
    ・長期在庫品の補充電・不活性セルの選別

    用途例

    ・自社充放電装置が稼働中で空きがない場合の利用
    ・新規事業立ち上げ期に電池評価環境を低コスト・短期間で確保したい場合
    ・海外調達した電池パックの品質検証
    静電気試験を設計担当者が自分の手で繰り返しながら製品を仕上げたい開発チーム
    ・長期サイクル試験(100回〜数百回以上)を外部に預けたい場合

    • 委託
      委託

    【受託・東京】電池不具合の原因究明 — X線CT非破壊検査・熱分布解析・BMS回路解析 / 海外製品の国内解析代行も対応

    二次電池セル・パックの不具合解析を受託します。X線CT・赤外線サーモカメラ・インピーダンス測定・BMS回路解析を組み合わせ、内部状態を非破壊で可視化して原因究明を支援します。 「海外製電池の不具合品を輸送規制(IATA・フェデックス等)で現地に返送できない」という課題に対して、国内ラボで解析...

    ・X線CT(島津製作所製)による非破壊3D内部検査。セル・パック内部を壊さずに可視化でき、充放電試験・外観検査では発見しにくい内部の異常を検出できる。
    ・リチウムイオン電池不具合品の輸送規制が世界的に厳格化するなか、国内で解析を完結できる希少な民間ラボ。
    ・海外工場エンジニアとのWebリモート連携実績あり。現地技術者の指示に従いながら国内ラボで計測・解析を進めるフローが可能。
    ・パック分解→解析→スポット溶接での復旧→再試験まで、同一ラボ内でワンストップで完結。
    ・中国語(数名在籍)・英語・韓国語対応。海外メーカーとの技術的なやりとりも仲介可能。

    ◆受託可能な解析内容
    ・X線非破壊検査(2D透過・3D CT断層像):内部構造確認・異常箇所の推定
    ・赤外線サーモグラフィ解析:発熱部位の特定・充放電中の温度変化記録
    ・インピーダンス解析(AC-IR):劣化・内部短絡の傾向確認
    ・BMS回路波形解析:電池パック制御基板の不具合解析
    ・パック分解・制御基板確認・スポット溶接による復旧
    ・デジタル顕微鏡による拡大目視解析(260倍、寸法測定)

    用途例

    ・市場で不具合が発生したリチウムイオン電池パックの原因究明
    ・海外製電池の不具合品を輸送規制で返送できない場合の国内解析代行
    ・充電器・電池パックの誤動作・発熱原因の特定
    ・モバイルバッテリーの安全性確認・品質問題の解析
    電池パック制御基板(BMS)の不具合診断
    ・海外企業の日本国内代行解析

    ◆納期目安
    X線CT単体:最短当日〜数日
    複合解析(複数手法組み合わせ):1〜2週間程度(要相談)

    • 委託

    波長分散型蛍光X線分析装置による測定

    蛍光X線により、試料に含まれる元素の定性及び半定量分析を行う装置です。 エネルギー分散型蛍光X線分析装置に比べて精密な分析が可能です。 幅広い試料の元素分析にご利用いただけます。

    • 委託
      産学連携

    単結晶X線構造解析装置による結晶構造解析(測定のみ、測定及び構造解析)

    CCD:X線回折により微小の単結晶試料(1mm以下)から化合物構造を測定します。金属から有機化合物まで広範囲の試料が測定できます。結晶構造決定のファーストチョイスです。 IP:X線回折により化合物の構造を測定します。銅線源を用いるため、天然物化学分野などで、有機化合物の絶対構造を明らかにする場...

    • 委託
      産学連携

    粉末X線回折装置による測定(X線回折プロファイル測定、結晶相候補探索)

    X線回折により、粉末または平面固体試料の結晶相の同定や構造解析を行います。またデータベースとの照合により、試料中の成分(結晶相)の同定が可能です。

    • 委託
      産学連携

    エネルギー分散型蛍光X線分析装置による測定

    蛍光X線により、試料に含まれる元素の定性及び半定量分析を行う装置です。 波長分散型蛍光X線分析装置に比べて測定が簡単で、幅広い試料(食品・ 材料・産廃・文化財)の元素分析にご利用いただけます。

    • 委託
      産学連携

    X線分析顕微鏡による測定

    蛍光X線分析により高精度な元素分析(マッピング、多点、定点)を非破壊で行います。多様なサンプル形状(固体、液体、粉体、含水試料など)に対応できます。

    • 神奈川県
    • 機器訪問利用

    多目的X線回折装置SmartLab

    粉末、バルク、薄膜の結晶構造解析

    本装置は、全自動水平型多目的X線回折装置(XRD)です。

    粉末、バルク、薄膜など多様なニーズに対応し、ガイダンス機能を持ったアプリケーションにより最適な測定条件で分析が行えます。また専用の解析アプリケーションにより定性分析、定量分析、結晶化度、配向度、結晶子サイズ分布、膜厚、残留応力など様々な解析が可能です。

    ・粉末、バルクの定性分析、定量分析(2θ/θ測定)
    ・薄膜試料の定性分析(2θ(斜入射)測定、インプレーン測定)
    ・結晶方位分布や配向性の分析(極点測定、ロッキングカーブ測定)
    ・結晶化度の分析(2θ/θ測定)
    ・粉末、バルクの高温での相変態、格子定数変化(温度制御2θ/θ測定)
    ・加工材料の残留応力分析
    ・単結晶基板とエピタキシャル薄膜の結晶方位関係、格子定数の解析(逆格子マップ測定)

    可能な実験例

    • 栃木県
    • 機器訪問利用

    X線光電子分光分析装置(XPS)

    X線照射により放出される光電子の運動エネルギー分布を測定し、試料表面の元素の種類・存在量・化学結合状態を調べる装置です。

    • 東京都
    • 機器訪問利用

    蛍光X線分析装置(XRF)

    X線を試料に照射した時に発生する蛍光X線のエネルギーや強度から、物質の成分元素や構成比率を分析できる装置です。

    可能な実験例

    ○合金めっき膜圧の測定

    合金めっきをした試料材料を測定し各成分スペクトルを分析することによって密度、付着量、膜厚を求めることができます。

    基板電極部周辺の面分析

    基板電極部分を測定し元素マッピングすることによって金属の分布を知ることができます。

    ○岩石の成分分析

    岩石粉体状に砕き測定することで岩石に含まれる成分の種類と量などを分析することができます

    廃液成分分析

    廃液液体のまま測定することによって、液中に含まれる成分や量などを分析することができます。


    ※組織により上記実験ができない場合がございます。

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