Site logo with text

ご希望の設備/ラボが 見つからない場合は、 こちらからご要望を お聞かせください

Pic lp eyecatch inquiry

検索結果:すべてのカテゴリ「対物レンズ」(5件)

    • Ic pin 神奈川県
    • 機器訪問利用

    共焦点レーザー顕微鏡:LSM5

    Thumb 9d7507cb 5a66 4aeb a1ca 845f943da382

    透過試料の蛍光観察

    共焦点レーザー顕微鏡は、レーザースキャンによって試料の蛍光像を測定し、高倍率時に特に問題になる試料の厚さによる焦点のずれがない像が得られます。また、焦点を変化させて複数枚の像を測定し、PC上で再構成することで立体的な像を得ることもできます。本装置は正立型顕微鏡のため、主に蛍光染色されたスライドガラス上の試料等の測定に使用可能です。

    可能な実験例

    透過試料の蛍光観察

    • Ic pin 神奈川県
    • 機器訪問利用

    走査型電子顕微鏡(SEM)JSM-7001F

    Thumb fbb3a385 2184 433f bfb6 35891d4f6494

    形態観察、元素分析、結晶方位解析

    本装置は、インレンズサーマル電界放出形電子銃を装備した走査型電子顕微鏡です。低加速電圧時でも効率よく電流が得られるため、高分解能観察が可能です。二次電子検出器以外に反射電子検出器を備えており、試料表面の形状観察だけでなく、試料組成に関する情報も得られます。EDS、EBSDが付帯しており、元素分析や微小構造解析が行えます。

    可能な実験例

    形態観察元素分析結晶方位解析

    • Ic pin 神奈川県
    • 機器訪問利用

    走査型電子顕微鏡(SEM)SU8010

    Thumb 7b99289e a0bb 4118 9e55 2d40f299a934

    形態観察、元素分析

    本装置は、冷陰極電界放出形電子銃を装備した走査型電子顕微鏡です。

    セミインレンズタイプでUpper/Lowerの2つの検出器を搭載しており二次電子、反射電子の同時観察やリターディング機能により低照射電圧超高分解能観察が可能です。

    可能な実験例

    • Ic pin 神奈川県
    • 機器訪問利用

    顕微ラマン分光装置: inVia Reflex

    Thumb 08568feb e9e8 4d8f 9fe7 59f95d99fcee

    材料、有機化合物の定性・定量、天然物・微生物などの分析、異物分析など

    物質に光を当てたとき、散乱光のごく一部に波長の異なる光が発生します。この現象をラマン散乱といい、ラマン分光では、レーザーによる単色光を当てて散乱光を測定することによりラマンスペクトルを得ます。ラマンスペクトルは、原子の振動(ばね運動に相当)によって周波数が変わるため、原子の質量と原子間の結合力に依存したラマンバンドが得られ、試料に含まれる結合や分子の解析をすることができます。

    可能な実験例

    材料、有機化合物の定性・定量、天然物微生物などの分析、異物分析など

    用途例

    有機化合物や金属酸化物などの物質は、成分が同じであれば同じスペクトルが得られます。よって、ラマンスペクトルから物質の同定をすることができます。
    混合物の解析はピークが複雑になるほど難しくなりますが、波形分離などを駆使することによって成分分析や定量ができることがあります。
    点分析では微量なピーク違いの見極めが困難な場合でも、マッピング測定によりピークの違いを見つけることができる場合があります。
    ・標準装備されている光学顕微鏡により、微小領域分解能: 1μm(100倍対物レンズ使用))のラマンイメージ測定ができて、物質成分空間分布を調べることができます。
    共焦点モードによって、物質深さ方向分解能: 2μm(100倍対物レンズ共焦点モード使用))の分析をすることができます。
    結晶化度や応力状態のような、材料の特性を調べることができます。
    ・温度可変ステージ(約-100℃~600℃)により、固体材料の相転移などの測定ができます。

    • Ic pin 茨城県
    • 機器訪問利用

    走査型電子顕微鏡(SEM)

    Thumb 9cf45b93 71dd 496d 968e 7857c8ddc67d

    電子線を絞って電子ビームとして対象に照射し、対象物から放出される二次電子、反射電子(後方散乱電子、BSE)、透過電子、X線、カソードルミネッセンス(蛍光)、内部起電力等を検出する事で対象を観察出来る装置です。

    可能な実験例

    〇レジストのパターン形成の観察

    露光、現像後の半導体のパターンを観察することができます。

    〇複合材料(樹脂)の断面の観察

    フィラーや強化繊維などを樹脂分散させた際に、断面観察により分散状態を観察することができます。

    電極断面の観察

    LEDの金属電極断面について、低加速電圧で反射電子像を観察することにより、金属薄膜結晶の状態を観察することができます。

    〇金属材料の破損原因の分析

    金属材料が破損した際に、原因を分析する1つの手段として、破断面の状態を観察し、原因を分析することができます。

    ※組織により上記実験ができない場合がございます。

ご希望の設備/ラボが 見つからない場合は、 こちらからご要望を お聞かせください

Pic lp eyecatch inquiry