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検索結果:すべてのカテゴリ「微小領域」(4件)

    • Ic pin 神奈川県
    • 機器訪問利用

    フーリエ変換赤外分光光度計(FT-IR)

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    有機化合物の構造解析、材料の表面・バルク分析、マイクロ粒子の分析

    赤外吸収分光計(IR)はサンプルに赤外線を照射し、それによるサンプルの物質がどの周波数(通常は波数)の赤外線を吸収しているかを測定する装置です。分子や原子はそれぞれ固有の振動をしていますが、波長(スペクトル上では波数)を連続的に変化させながら赤外線(infrared : IR)を照射すれば、分子の固有振動と同じ周波数のIRが吸収され、分子の構造に応じたスペクトルが得られるはずです。これにより、サンプルが予測できるものであれば、既知のスペクトルと比較して、同定、確認ができますし、また、多重結合、官能基、シス-トランス異性、水素結合などの分子構造に関する知見を得ることもできます。
    なお、実際の測定原理は干渉計を利用したフーリエ分光法を用いていて、より高い波数の再現性を持っています。現在はこれらのFT-IRが一般的になっています。検出器は、焦電型のDTGS検出器と、半導体型のMCT検出器を備え、高感度分析にも対応しています。

    試料は、サンプルセルを換えることにより、固体、液体の状態で測定できます。通常、固体はサンプルをKBrに分散させるKBr法、液体は原液のまま測定する液膜法と溶媒に溶かす溶液法を用います。また、1回反射ATRユニットや高感度反射ユニットを用いることで固体、液体、フィルム状など、様々な状態の試料にも対応できます。その他、顕微IR用の顕微鏡アタッチメントを比較的簡単に据え付けることができ、微少領域の測定をすることが可能です。

    可能な実験例

    有機化合物構造解析、材料の表面・バルク分析、マイクロ粒子の分析

    用途例

    透過法セルホルダや各種ユニットを使用することで、様々な試料状態(液体・粉末・固形物気体など)の非破壊による測定ができて、試料の分子構造解析ができます。
    スペクトルデータ比較することにより、成分分析ができることがあります(ただし、付属のデータベースはないため別途スペクトルデータが必要です)。
    ・顕微法を用いることにより、10μm以上のサイズの粒子などを分析することができます。
    高分子材料の表面・バルクの分析をすることができます。
    ・高感度反射測定により、金属表面分子膜などを測定できます。

    • Ic pin 神奈川県
    • 機器訪問利用

    顕微ラマン分光装置: inVia Reflex

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    材料、有機化合物の定性・定量、天然物・微生物などの分析、異物分析など

    物質に光を当てたとき、散乱光のごく一部に波長の異なる光が発生します。この現象をラマン散乱といい、ラマン分光では、レーザーによる単色光を当てて散乱光を測定することによりラマンスペクトルを得ます。ラマンスペクトルは、原子の振動(ばね運動に相当)によって周波数が変わるため、原子の質量と原子間の結合力に依存したラマンバンドが得られ、試料に含まれる結合や分子の解析をすることができます。

    可能な実験例

    材料、有機化合物の定性・定量、天然物微生物などの分析、異物分析など

    用途例

    有機化合物や金属酸化物などの物質は、成分が同じであれば同じスペクトルが得られます。よって、ラマンスペクトルから物質の同定をすることができます。
    混合物の解析はピークが複雑になるほど難しくなりますが、波形分離などを駆使することによって成分分析や定量ができることがあります。
    点分析では微量なピーク違いの見極めが困難な場合でも、マッピング測定によりピークの違いを見つけることができる場合があります。
    ・標準装備されている光学顕微鏡により、微小領域分解能: 1μm(100倍対物レンズ使用))のラマンイメージ測定ができて、物質成分空間分布を調べることができます。
    共焦点モードによって、物質深さ方向分解能: 2μm(100倍対物レンズ共焦点モード使用))の分析をすることができます。
    結晶化度や応力状態のような、材料の特性を調べることができます。
    ・温度可変ステージ(約-100℃~600℃)により、固体材料の相転移などの測定ができます。

    • 委託
      産学連携

    質量顕微鏡システム

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    質量イメージング

    • Ic pin 茨城県
    • 機器訪問利用

    EPMA(電子線マイクロアナライザー装置)

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    電子プローブマイクロアナライザ(EPMA)は、物質表面に電子線を照射して、そこから発生する特性X線を計測し、試料を構成する元素とその量を測定することができます。

    可能な実験例

    物質の構成元素定量分析

    物質を構成する元素強度比から、定量分析が可能です。電子顕微鏡観察面での分析であり、試料全体の定量分析ではないことに注意が必要です。また標準試料を用いることによって、定量の精度が向上します。

    物質の構成元素定性分析

    検出したX線の波長からどのような元素が含まれているかわかり、未知物質の組成推定に用いることができます。検出限界は 程度で、0.001質量%(重元素の場合)で、微量成分の分析には向きません。

    ◯相分離構造マッピング分析

    観察面の各位置から検出された特性X線波長を各元素ごとに色分けすることにより、元素マッピング分析が可能です。合金、磁石、鉱石などの相分離構造観察などに活用されます。

    ◯デバイスの縦方向組成分

    半導体などのデバイス断面を観察することで、各層を構成する元素組成がわかります。デバイス構成によっては層膜厚が分解能以下であるため、各層の組成ずれや層間の元素拡散の度合いが定性的にわかります。

    ◯汚染、不純物の組成特定

    製品不良解析や原因推定の際に有効な手段です。例えば不良があった半導体製品の表面に意図せず付着しているドロップレットの構造、組成が分かると、原因特定に役立ちます。


    ※組織により上記実験ができない場合がございます。

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