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検索結果:すべてのカテゴリ「不良解析」(4件)

    • 委託

    【異物・不良解析】走査電子顕微鏡(SEM-EDS)による表面形状観察・元素マッピング解析

    走査電子顕微鏡(SEM-EDS)による表面形状観察・元素マッピング解析

    用途例

    ★ 異物表面観察元素マッピング解析
    ★ 不良製品の表明形状確認 (金属粉の形態観察材質判別など)

    • 大阪府
    • レンタルラボ

    【大阪南部|関西国際空港近く】全固体・ナトリウムイオン電池の試作評価ができるラボ|大型グローブボックス保有

    次世代電池の試作評価では、大型設備投資や材料調達の難しさから、自社単独での着手が難しいケースが増えています。本ラボでは、全固体・ナトリウムイオン電池等の試作評価設備に加え、海外調達の電池材料・セル供給にも対応。露点-80℃のドライ環境を保つ7連の大型グローブボックス内で、原料秤量・粉体混合・ス...

    【1】特注の7連大型グローブボックスによる一貫試作環境
    露点-80℃のドライ環境を保ったまま、原料秤量・粉体混合・スラリー/ドライブレンド調製から、電極塗工・プレス・積層・パウチセル作製までを連続して行える

    【2】電池構成材料を一体で提供
    正極材・負極材・固体電解質・電解液・集電体などの電池材料全般を輸入販売しており、すぐに試作・評価へ着手できる体制を提供可能

    【3】ラボ〜実証スケールを連携でカバー
    本ラボでのコインセル・小型セル試作評価から、岡山工場の試作ライン(10〜30Ah級)への接続まで対応可能で、基礎研究から量産前段階まで一貫して支援

    【4】評価後の解体分析・不良解析まで対応
    充放電評価後のセルを解体し、SEM・XRD・DSC・カールフィッシャー水分計等を用いて、リチウム析出、構造変化、熱安定性、水分量、ガス発生・膨れ要因などを多角的に検証可能。岡山工場では、満充電状態の大型電池をドライルーム内で解体し、不良箇所を検証できる国内でも希少な体制を保有

    【5】工場レベルの技術研修プログラム
    スラリー作製から充放電評価までを1週間で習得できる研修を岡山工場で提供。座学と実技を組み合わせた2日間集中コース(次世代電池)にも対応し、現場ベースで電池製造を理解できる環境を提供

    可能な実験例

    【1】ラミネートセル・コインセル(CR2032等)の試作と初期充放電評価
    【2】円柱(円筒)セル・ラミネートセルの充放電サイクル評価・容量維持率測定
    【3】市販材料を用いた二次電池コンセプト検証(LFP正極/グラファイト負極等)
    【4】全固体電池電極作製・積層・パウチセル試作
    【5】ナトリウムイオン電池の試作・評価
    【6】電池材料の熱分析TG-DTADSC)・XRDによる結晶構造評価
    【7】電池内の水分量管理(カールフィッシャー法)
    【8】試作セルの評価後解体・劣化要因解析
    【9】満充電状態での大型電池解体および不良箇所の検証
    【10】技術指導付きの長期試作プロジェクト

    • 茨城県
    • 機器訪問利用

    EPMA(電子線マイクロアナライザー装置)

    電子プローブマイクロアナライザ(EPMA)は、物質表面に電子線を照射して、そこから発生する特性X線を計測し、試料を構成する元素とその量を測定することができます。

    可能な実験例

    物質の構成元素定量分析

    物質を構成する元素強度比から、定量分析が可能です。電子顕微鏡観察面での分析であり、試料全体の定量分析ではないことに注意が必要です。また標準試料を用いることによって、定量の精度が向上します。

    物質の構成元素定性分析

    検出したX線の波長からどのような元素が含まれているかわかり、未知物質の組成推定に用いることができます。検出限界は 程度で、0.001質量%(重元素の場合)で、微量成分の分析には向きません。

    ◯相分離構造マッピング分析

    観察面の各位置から検出された特性X線波長を各元素ごとに色分けすることにより、元素マッピング分析が可能です。合金、磁石、鉱石などの相分離構造観察などに活用されます。

    ◯デバイスの縦方向組成分

    半導体などのデバイス断面を観察することで、各層を構成する元素組成がわかります。デバイス構成によっては層膜厚が分解能以下であるため、各層の組成ずれや層間の元素拡散の度合いが定性的にわかります。

    ◯汚染、不純物の組成特定

    製品不良解析や原因推定の際に有効な手段です。例えば不良があった半導体製品の表面に意図せず付着しているドロップレットの構造、組成が分かると、原因特定に役立ちます。


    ※組織により上記実験ができない場合がございます。

    • 神奈川県
    • 機器訪問利用

    【神奈川】XRD 多目的X線回折装置

    半導体及び金属材料などの結晶構造・欠陥構造・歪みなどを解析する装置。 反射率、膜厚・配向、小角散乱による粒径/空孔分布などの測定ができます。 製品や材料の品質・性能確認、不良解析などに利用できます。

    可能な実験例

    薄膜反射率測定
    薄膜膜厚測定
    液体含有物の粒径測定
    ・ゲルの空孔分布
    ・BB法
    ・PB法
    ・Inplane測定
    など

    用途例

    残留応力測定
    結晶成分分析
    など

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