基材と
薄膜界面近辺を測定することにより、膜厚がわかります。例として
蒸着膜やSAMs、LB膜などが挙げられます。
分子構造と膜厚から層数がわかることもあります。
◯原子レベル平坦結晶面の観察研磨した単結晶基板や単結晶のへき開面などは原子レベルで平坦なことがあり、AFMによりステップ＆テラス構造が観察されることがあります。結晶面の成長過程観察により成長メカニズムの解明に役立ちます。
◯表面荒さの測定
観察した表面の荒さや凹凸の度合いを測定することができます。平均面荒さ（Ra）や自乗平均面荒さ（RMS）、面内最大高低差（R
max）といった数値であらわされます。
◯生体材料の測定
タッピングモードやノンコンタクトモード測定などを用いることにより、対象物を破壊することなく測定することができます。柔らかく変位し易い生体材料などの表面測定に適しており、プローブのしなりなどから細胞膜の弾性率などを測定することもできます。
※組織により上記実験ができない場合がございます。
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