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ご希望の設備/ラボが 見つからない場合は、 こちらからご要望を お聞かせください

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    • Ic pin 神奈川県
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    薄層クロマトグラフ質量分析計 (TLC-MS)

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    有機化合物の定性分析・簡易分析

    本装置は、薄層クロマトグラフ質量分析計(TLC-MS)と呼ばれる装置です。あらかじめ薄層クロマトグラフィ(TLC)によって成分を分離したTLCプレートを用意し、それを装置のホルダに取り付けることで、直接に成分分析ができる質量分析計となっています。TLCプレート用のホルダが付いていますが、それ以外でもガラス棒などに直接塗布して測定することもできます。

    質量分析のイオン化には、いわゆる「アンビエントイオン化」を使った装置であり、DRAT (Direct Analysis in Real Time) という名前のイオン源装置を備えています。DARTは、ヘリウムガスをプラズマ放電により励起し、試料に吹き付けることでイオン化させる手法です。大気圧中において、試料とガスの接触によりイオン化しますので、真空チャンバーに入れたり、前処理をしたりする必要がありません。そのため、リアルタイムにスペクトルが取れ、簡単に測定することができます。

    また、本装置は質量分離装置が四重極質量分析計(Q-MS)となっており、比較的高感度に測定できます。ただし、Q-MSは、スペクトル分解能が低いため、小数点以下の精密質量測定はできません。

    可能な実験例

    用途例

    薄層クロマトグラフ分離した成分をそのまま直接分析できます。
    ガラス管などに試料を付けて、大気圧下で測定することができます。

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    共焦点レーザー顕微鏡:LSM5

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    透過試料の蛍光観察

    共焦点レーザー顕微鏡は、レーザースキャンによって試料の蛍光像を測定し、高倍率時に特に問題になる試料の厚さによる焦点のずれがない像が得られます。また、焦点を変化させて複数枚の像を測定し、PC上で再構成することで立体的な像を得ることもできます。本装置は正立型顕微鏡のため、主に蛍光染色されたスライドガラス上の試料等の測定に使用可能です。

    可能な実験例

    透過試料の蛍光観察

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    走査型電子顕微鏡(SEM)JSM-7001F

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    形態観察、元素分析、結晶方位解析

    本装置は、インレンズサーマル電界放出形電子銃を装備した走査型電子顕微鏡です。低加速電圧時でも効率よく電流が得られるため、高分解能観察が可能です。二次電子検出器以外に反射電子検出器を備えており、試料表面の形状観察だけでなく、試料組成に関する情報も得られます。EDS、EBSDが付帯しており、元素分析や微小構造解析が行えます。

    可能な実験例

    形態観察元素分析結晶方位解析

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    走査型電子顕微鏡(SEM)SU8010

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    形態観察、元素分析

    本装置は、冷陰極電界放出形電子銃を装備した走査型電子顕微鏡です。

    セミインレンズタイプでUpper/Lowerの2つの検出器を搭載しており二次電子、反射電子の同時観察やリターディング機能により低照射電圧超高分解能観察が可能です。

    可能な実験例

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    多目的X線回折装置SmartLab

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    粉末、バルク、薄膜の結晶構造解析

    本装置は、全自動水平型多目的X線回折装置(XRD)です。

    粉末、バルク、薄膜など多様なニーズに対応し、ガイダンス機能を持ったアプリケーションにより最適な測定条件で分析が行えます。また専用の解析アプリケーションにより定性分析、定量分析、結晶化度、配向度、結晶子サイズ分布、膜厚、残留応力など様々な解析が可能です。

    ・粉末、バルクの定性分析、定量分析(2θ/θ測定)
    ・薄膜試料の定性分析(2θ(斜入射)測定、インプレーン測定)
    ・結晶方位分布や配向性の分析(極点測定、ロッキングカーブ測定)
    ・結晶化度の分析(2θ/θ測定)
    ・粉末、バルクの高温での相変態、格子定数変化(温度制御2θ/θ測定)
    ・加工材料の残留応力分析
    ・単結晶基板とエピタキシャル薄膜の結晶方位関係、格子定数の解析(逆格子マップ測定)

    可能な実験例

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    透過型電子顕微鏡(TEM):JEM-2100F

    Thumb 5b5daa8b d544 42da b6fd ebd4fd6e64bc

    形態観察、結晶構造解析、元素分析

    電子顕微鏡は、光の代わりに電子(電子線)をあてて拡大する顕微鏡のことです。観察物質の構造や構成成分の違いにより電子線の透過能が異なるので、場所による透過電子の密度の違いを透過顕微鏡像として得ます。透過型電子顕微鏡では、極薄い試料を用いますが、数十万倍にも拡大した像を得ることができます。さらに、原子の周期的な配列に対応した回折現象を利用して、電子回折像が得られます。これは、物質(試料)の性質、特に結晶構造や格子欠陥に関わる重要な情報です。

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    高速液体クロマトグラフ:LaChrom Elite

    Thumb c0af9fca 69e8 4bbf 81e2 77f72ecccf4a

    混合物の成分分析

    本装置は、高速液体クロマトグラフ(HPLC)であり、溶液の成分を分離するための装置です。装置構成は一般的なHPLC装置ですが、試料の温度制御が可能なオートサンプラーが付属しており、大量検体の測定に向いています。

    可能な実験例

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    ウルトラミクロトーム: UC7

    Thumb 84e8342a 6090 4624 ab63 14f66e674689

    厚さ100nm以下の透過電子顕微鏡用の超薄切片を作製することが出来ます。

    ダイヤモンドナイフを用いてバルク試料を切削し、厚さ100nm以下の透過電子顕微鏡用の超薄切片を作製することが出来ます。一方、SEMあるいはAFM観察で必要な高い面精度の断面作製にも活用できます。

    可能な実験例

    超薄切片の作製

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    顕微ラマン分光装置: inVia Reflex

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    材料、有機化合物の定性・定量、天然物・微生物などの分析、異物分析など

    物質に光を当てたとき、散乱光のごく一部に波長の異なる光が発生します。この現象をラマン散乱といい、ラマン分光では、レーザーによる単色光を当てて散乱光を測定することによりラマンスペクトルを得ます。ラマンスペクトルは、原子の振動(ばね運動に相当)によって周波数が変わるため、原子の質量と原子間の結合力に依存したラマンバンドが得られ、試料に含まれる結合や分子の解析をすることができます。

    可能な実験例

    材料、有機化合物の定性・定量、天然物微生物などの分析、異物分析など

    用途例

    有機化合物や金属酸化物などの物質は、成分が同じであれば同じスペクトルが得られます。よって、ラマンスペクトルから物質の同定をすることができます。
    混合物の解析はピークが複雑になるほど難しくなりますが、波形分離などを駆使することによって成分分析や定量ができることがあります。
    点分析では微量なピーク違いの見極めが困難な場合でも、マッピング測定によりピークの違いを見つけることができる場合があります。
    ・標準装備されている光学顕微鏡により、微小領域分解能: 1μm(100倍対物レンズ使用))のラマンイメージ測定ができて、物質成分空間分布を調べることができます。
    共焦点モードによって、物質深さ方向分解能: 2μm(100倍対物レンズ共焦点モード使用))の分析をすることができます。
    結晶化度や応力状態のような、材料の特性を調べることができます。
    ・温度可変ステージ(約-100℃~600℃)により、固体材料の相転移などの測定ができます。

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    ICP発光分光分析装置 : ICPE-9000

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    元素分析 (溶液、無機元素)

    霧状にした試料を、円筒状のプラズマに導入することで、原子固有の波長の発光(スペクトル線)から元素の定性・定量をする分析法です。
    液体試料の元素を測定する類似の装置に原子吸光法、ICP-MSがあり、特徴は以下の通りです。
    ・原子吸光法:ルーチン的な操作では扱いやすい。ppbオーダー。元素に応じた光源が必要。

    ・ICP-AES (ICP-OES):主成分の測定に対して比較的万能。ppbオーダー。
    ・ICP-MS:微量成分の測定向き。pptオーダー。ppmオーダーの高濃度マトリクスは不可。

    ICP-AESは、分光のために回折格子を使用していますが、それらを駆動させて測定するシーケンシャルタイプと、駆動させずに一度に検出するマルチタイプがあります。前者は分解能と感度が良いですが、測定時間が長いという欠点があります。本装置は多元素の同時分析に向いているマルチタイプ装置となっています。
    干渉量を自動診断できるデータベースとソフトウェアを備えるため、多元素干渉試料でも初心者が比較的簡単に測定することができます

    可能な実験例