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非破壊、非接触による化合物半導体の組成評価、欠陥評価、量子井戸の評価、不純...

本システムは、時間分解発光測定用ストリークカメラ（1000-1650nm）と励起用レーザ（635nm）を用いて発光分光測定、ストリークカメラ使用した時間蛍光測定寿命を可能とする装置でかつ試料を冷却して測定可能。

SEM用断面試料作製装置/アルゴンイオンを用いて柔らかい試料、硬い試料、脆...

イオン加速電圧6kV,試料冷却－120℃可能、加工観察用カメラ付き、大気非暴露型試料断面加工装置
（専用のトランスファーベッセルを使用することで、断面加工表面を大気にさらさないで、JSM-7800Fにて観察できる）

10万倍の高倍率でもチャージアップせず観察可能

・試料台寸法：φ80mm
・照明・窓：UVカット仕様
・コート時間：1.7秒
・放電時間：15秒

(1H, 13C, 15N) MAS径2.5mm　MAS回転数24kHz

多核種　MAS径3.2mm　MAS回転数20kHz

MAS径: 4 mm
MAS回転数: 20 kHz
設定可能温度: -100 〜 150 ℃ （173 〜 423 K）