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X線回折により、粉末または平面固体試料の結晶相の同定や構造解析を行います。またデータベースとの照合により、試料中の成分（結晶相）の同定が可能です。

紫外・可視光を当てることで試料に含まれる物質の同定や定量測定をします。付属ユニットにより固体試料の測定（色彩評価等）も可能です。ライフサイエンス等の幅広い分野で利用できます。

X線を照射し，放出される光電子を分析して，被験物質の表面組成の分析を行う装置です。固体試料のみで揮発性の物質は不可。

粉末状固体試料のＢＥＴ、ラングミュア比表面積、および細孔分布と細孔容積を計測する装置です。本装置では、比表面積と細孔分布を窒素ガスの物理的な吸着・脱離における等温線データから求めます。その他のガス吸着も可能です。

液体または固体試料を一定の速度で加熱しながら、その重量を連続的に測定する技術です。試料の重量変化と温度の関係から、分解、酸化、還元、昇華、吸着・脱着、相転移などの反応に関する情報が得られます。測定温度範囲は室温から1000℃程度です。窒素ガス雰囲気下での測定も可能です

液体または固体試料を一定の速度で加熱しながら、その熱容量（比熱）を連続的に測定する技術です。試料の熱容量変化と温度の関係から、分解、酸化、還元、昇華、吸着・脱着、相転移などの反応に関する情報が得られます。測定温度範囲は-150から500℃程度です。窒素ガス雰囲気下での測定も可能です。

GCを使用した委託分析です。

液体試料中の元素の定性分析・定量分析固体試料中の元素の定量分析を行う装置です。

飛行時間型二次イオン質量分析法（TOF-SIMS：Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry)は、固体試料にイオンビーム（一次イオン）を照射し、表面から放出されるイオン（二次イオン）を、その飛行時間差（飛行時間は重さの平方根に比例）を利用して質...

分子構造の決定、物質の同定を行う装置です。