機器レンタル［1Chip顕微観察技術　MID技術採用］Cellany

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実験委託【異物・不良解析】走査電子顕微鏡（SEM-EDS）による表面形状観察・元素マッピング解析

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実験委託高圧凍結装置

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実験委託電子顕微鏡による撮像・元素分析

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実験委託光電子分光による分析

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機器訪問利用画像解析式粒径分布測定装置

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機器訪問利用二次イオン質量分析装置(SIMS)

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機器訪問利用中赤外ファイバー測定システム

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機器訪問利用分子量分布測定システム

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機器訪問利用卓上傾斜切削機

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