1.半導体のホール効果測定(測定温度:20 Kから1060 K) ・抵抗率の温度依存性・多数キャリア密度の温度依存性・多数キャリアの移動度の温度依存性 2.多数キャリア密度の温度依存性からの解析・評価(FCCS法) ・ドーパント(ドナー、アクセプタ)の密度とエネルギー準位の評価 ・多数キャリア...
試験方法の要望対応可能
試験計画の立案可能
半導体工学の専門家によるアドバイスや共同研究が可能
半導体開発
JIS Z 2911(カビ抵抗性試験)やJIS L 1902(抗菌試験)等の日本工業規格(JIS)などに基づいた方法で、細菌、ウイルス、カビの除去率や抗菌活性などを評価します。
日本空気清浄協会評価指針であるJACA No.50-2016に基づいて、浮遊細菌・カビの除去性能を評価します。ほこりの除去性能(CADR)、臭いの除去性能(AVER)、ウイルスの抑制性能(VFR)、花粉の除去性能(PFR)、PM2.5の除去性能(PFPR)の5項目を評価します。
室内空気中のカビ・細菌の濃度を衝突法で測定します。衝突法は、空気中の浮遊菌を、空気流に反対方向に高速で流れる液体にぶつからせて捕集する方法です。得られたデータは日本建築学会規準法の基準値と比較します。
・カビの場合は種類の同定から汚染原因の考察まで可能
・浮遊菌の研究の専門家が実施
・試験計画から実施可能
室内の浮遊菌濃度の調査