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検索結果:すべてのカテゴリ「有機」(70件)

  • GC(ガスクロマトグラフィー)

    東京都
    機器訪問利用

    気体および液体の成分分析を行います。

    可能な実験例

    ○食品のにおい成分の分析

    食品の香気成分として炭化水素類、アルコール類、エステル類などがあり、標準試料、検量線を用いて分析することによって、定性、定量ができます。

    ○分離膜の透過実験

    透過側と供給側の液の組成を測定することによって分離係数を算出することができます。

    ○樹脂の解析

    熱分解させた樹脂を測定することで骨格構造、末端基情報を得ることができます。

    ○高分子材料に含まれる添加成分の分析

    溶媒抽出などの前処理で得られた抽出液を分析し、酸化防止剤などの添加剤や残存溶媒の定性、定量ができます。


    ※組織により上記実験ができない場合がございます。

    • 東京都
    • 機器訪問利用

    GC(ガスクロマトグラフィー)

    気体および液体の成分分析を行います。

    可能な実験例

    ○食品のにおい成分の分析

    食品の香気成分として炭化水素類、アルコール類、エステル類などがあり、標準試料、検量線を用いて分析することによって、定性、定量ができます。

    ○分離膜の透過実験

    透過側と供給側の液の組成を測定することによって分離係数を算出することができます。

    ○樹脂の解析

    熱分解させた樹脂を測定することで骨格構造、末端基情報を得ることができます。

    ○高分子材料に含まれる添加成分の分析

    溶媒抽出などの前処理で得られた抽出液を分析し、酸化防止剤などの添加剤や残存溶媒の定性、定量ができます。


    ※組織により上記実験ができない場合がございます。

  • 赤外分光光度計(FT-IR)

    東京都
    機器訪問利用

    分子構造の決定、物質の同定を行う装置です。

    可能な実験例

    〇異物の同定

    既知物質の赤外吸収スペクトルと比較することで、異物の同定ができます。

    〇有機物の構造解析

    赤外吸収スペクトルから、結合度や官能基の有無、シス-トランス異性などの構造を調べることができます。

    〇品質管理

    基準となる赤外吸収スペクトルと比較することで、測定対象の品質が要求仕様を満たしているかを調べることができます。

    〇トランス脂肪酸含有量の測定

    全反射法を用いることで、食品に含まれるトランス脂肪酸の含有量を調べることができます。


    ※組織により上記実験ができない場合がございます。

    • 東京都
    • 機器訪問利用

    赤外分光光度計(FT-IR)

    分子構造の決定、物質の同定を行う装置です。

    可能な実験例

    〇異物の同定

    既知物質の赤外吸収スペクトルと比較することで、異物の同定ができます。

    〇有機物の構造解析

    赤外吸収スペクトルから、結合度や官能基の有無、シス-トランス異性などの構造を調べることができます。

    〇品質管理

    基準となる赤外吸収スペクトルと比較することで、測定対象の品質が要求仕様を満たしているかを調べることができます。

    〇トランス脂肪酸含有量の測定

    全反射法を用いることで、食品に含まれるトランス脂肪酸の含有量を調べることができます。


    ※組織により上記実験ができない場合がございます。

  • CVD装置

    茨城県
    機器訪問利用

    薄膜(はくまく)形成装置の一つで、半導体の表面に薄い膜を堆積する装置です。

    可能な実験例

    ◯酸化物系の成膜

    原料に酸素含有ガスを用いることにより、酸化物薄膜が形成できます。例として絶縁膜などに利用されるSiOやAl2O3、強誘電体として利用されるPZT、超伝導体YBCOなどが成膜できます。その他にも多くの酸化物が研究されています。

    ◯化合物系の成膜

    化合物系薄膜が成膜できます。例として太陽電池や 高速通信などに用いられるGaAs、LEDなどに用いられるGaN、パワーデバイスなどに用いられるSiCなどが挙げられます。

    ◯シリコン系の成膜

    広く産業用途で用いられるSiを成膜できます。エピタキシャルSi、polySi、アモルファスSiなど、様々な状態のSiが成膜できます。

    ◯2次元層状化合物の成膜

    近年活発に研究されているグラフェンや金属カルコゲナイドなどを成膜することができます。

    ◯表面処理

    必ずしも平坦でない対象物表面にも処理できるため、凹凸の多い対象の表面処理などに用いられます。例として切削工具などの耐摩耗性を向上させるTiC、TiCNなどがあります。


    ※組織により上記実験ができない場合がございます。

    • 茨城県
    • 機器訪問利用

    CVD装置

    薄膜(はくまく)形成装置の一つで、半導体の表面に薄い膜を堆積する装置です。

    可能な実験例

    ◯酸化物系の成膜

    原料に酸素含有ガスを用いることにより、酸化物薄膜が形成できます。例として絶縁膜などに利用されるSiOやAl2O3、強誘電体として利用されるPZT、超伝導体YBCOなどが成膜できます。その他にも多くの酸化物が研究されています。

    ◯化合物系の成膜

    化合物系薄膜が成膜できます。例として太陽電池や 高速通信などに用いられるGaAs、LEDなどに用いられるGaN、パワーデバイスなどに用いられるSiCなどが挙げられます。

    ◯シリコン系の成膜

    広く産業用途で用いられるSiを成膜できます。エピタキシャルSi、polySi、アモルファスSiなど、様々な状態のSiが成膜できます。

    ◯2次元層状化合物の成膜

    近年活発に研究されているグラフェンや金属カルコゲナイドなどを成膜することができます。

    ◯表面処理

    必ずしも平坦でない対象物表面にも処理できるため、凹凸の多い対象の表面処理などに用いられます。例として切削工具などの耐摩耗性を向上させるTiC、TiCNなどがあります。


    ※組織により上記実験ができない場合がございます。

  • EDX(SEM-EDX)

    茨城県
    機器訪問利用

    SEM(走査型電子顕微鏡)にEDX(エネルギー分散型X線分析装置)を装備しており、観察領域における組成分析・元素マッピングができます。

    可能な実験例

    ○部品の破損原因の特定

    劣化して破損してしまった部品を表面分析することにより、本来部品に含まれていない成分などの有無を調べ、外的要因がないかどうかを判断することができます。

    ○金属中の変色調査

    変色してしまった金属製品を測定しマッピング分析をすることにより、変色箇所に含まれる成分を特定することができます。

    ○無機物質の大まかな材料判定

    未知の無機物質を測定し、標準試料のデータと照らし合わせることで無機物質の大まかな材料判定をすることができます。

    ○電子基板上の微小異物の分析

    電子基板上に発生した微小異物の元素分析をすることにより、有機物か無機物かを判別することができます。


    ※組織により上記実験ができない場合がございます。

    • 茨城県
    • 機器訪問利用

    EDX(SEM-EDX)

    SEM(走査型電子顕微鏡)にEDX(エネルギー分散型X線分析装置)を装備しており、観察領域における組成分析・元素マッピングができます。

    可能な実験例

    ○部品の破損原因の特定

    劣化して破損してしまった部品を表面分析することにより、本来部品に含まれていない成分などの有無を調べ、外的要因がないかどうかを判断することができます。

    ○金属中の変色調査

    変色してしまった金属製品を測定しマッピング分析をすることにより、変色箇所に含まれる成分を特定することができます。

    ○無機物質の大まかな材料判定

    未知の無機物質を測定し、標準試料のデータと照らし合わせることで無機物質の大まかな材料判定をすることができます。

    ○電子基板上の微小異物の分析

    電子基板上に発生した微小異物の元素分析をすることにより、有機物か無機物かを判別することができます。


    ※組織により上記実験ができない場合がございます。

  • X線回折装置(XRD)

    茨城県
    機器訪問利用

    化合物の同定・定量分析や、結晶構造の解析を行うことができます。

    可能な実験例

    試料の定性・定量分析・相同定

    粉末X線回折法により得られた回折パターンを、既知物質の回折パターンと比較することで試料の定性・定量分析や相同定をすることができます。

    格子定数・イオン半径・原子座標位置の算出

    粉末X線回折法により得られた回折パターンのフィッテングを行うことで、試料の格子定数・イオン半径・原子座標位置を算出することができます。

    分子の三次元構造の決定

    単結晶X線回折法により得られた回折パターンから、分子の三次元構造を決定することができます。

    試料の格子歪・残留応力の測定

    X線回折法により得られた回折パターンから、ピーク位置のずれや幅を測定することで試料の格子歪・残留応力の算出をすることができます。

    結晶方位の測定

    試料に照射するX線の角度を変化させながら、任意の結晶方位の回折ピークを測定することで試料の結晶方位を測定することができます。

    結晶配向性の測定

    特定のピーク位置における回折強度分布を測定することで、結晶の配向性を測定することができます。


    ※組織により上記実験ができない場合がございます。

    • 茨城県
    • 機器訪問利用

    X線回折装置(XRD)

    化合物の同定・定量分析や、結晶構造の解析を行うことができます。

    可能な実験例

    試料の定性・定量分析・相同定

    粉末X線回折法により得られた回折パターンを、既知物質の回折パターンと比較することで試料の定性・定量分析や相同定をすることができます。

    格子定数・イオン半径・原子座標位置の算出

    粉末X線回折法により得られた回折パターンのフィッテングを行うことで、試料の格子定数・イオン半径・原子座標位置を算出することができます。

    分子の三次元構造の決定

    単結晶X線回折法により得られた回折パターンから、分子の三次元構造を決定することができます。

    試料の格子歪・残留応力の測定

    X線回折法により得られた回折パターンから、ピーク位置のずれや幅を測定することで試料の格子歪・残留応力の算出をすることができます。

    結晶方位の測定

    試料に照射するX線の角度を変化させながら、任意の結晶方位の回折ピークを測定することで試料の結晶方位を測定することができます。

    結晶配向性の測定

    特定のピーク位置における回折強度分布を測定することで、結晶の配向性を測定することができます。


    ※組織により上記実験ができない場合がございます。

  • 元素分析装置を用いた依頼分析

    産学連携
    委託

    有機分子の元素組成が得られます。

    • 産学連携
      委託

    元素分析装置を用いた依頼分析

    有機分子の元素組成が得られます。

  • 質量分析装置を用いた依頼分析

    産学連携
    委託

    有機分子の質量スペクトルが得られます。

    • 産学連携
      委託

    質量分析装置を用いた依頼分析

    有機分子の質量スペクトルが得られます。

  • 核磁気共鳴装置を用いた依頼分析

    産学連携
    委託

    有機分子の構造情報が得られます。

    • 産学連携
      委託

    核磁気共鳴装置を用いた依頼分析

    有機分子の構造情報が得られます。

  • 【愛知】化学実験ができる大学のラボ(産学連携先)

    愛知県
    産学連携
    シェアラボ・レンタルラボ
  • 【大阪】 大阪駅からアクセス良好/貸し切り可能な微生物試験のできるレンタルラボ

    大阪府
    シェアラボ・レンタルラボ

    ウェットラボの実験室です。長期間での利用が可能です。機器の持ち込み・設置も可能です。

    可能な実験例

    ・ 微生物試験項目  
      生物数測定/抗菌試験/発育試験/生菌剤の試料調製と保存試験
    ・システム試験項目  
     廃水処理/脱臭装置等のバイオリアクターの性能試験

    用途例

    ・化成品製造・食品加工・廃棄物の資源化・環境浄化などに関わって
     植物・微生物の生物システムを用いる技術の研究開発
    ・ 動植物・微生物の生物システムに関する検査及び調査

    • 大阪府
    • シェアラボ・レンタルラボ

    【大阪】 大阪駅からアクセス良好/貸し切り可能な微生物試験のできるレンタルラボ

    ウェットラボの実験室です。長期間での利用が可能です。機器の持ち込み・設置も可能です。

    可能な実験例

    ・ 微生物試験項目  
      生物数測定/抗菌試験/発育試験/生菌剤の試料調製と保存試験
    ・システム試験項目  
     廃水処理/脱臭装置等のバイオリアクターの性能試験

    用途例

    ・化成品製造・食品加工・廃棄物の資源化・環境浄化などに関わって
     植物・微生物の生物システムを用いる技術の研究開発
    ・ 動植物・微生物の生物システムに関する検査及び調査

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