機器訪問利用(材料化学)の一覧（22件）

蛍光異方性（蛍光性の物質に励起光として偏光を照射すると、生じる蛍光の偏光度が分子の状態によって異なること）を利用し、分子の状態を計測します。

示差走査熱量測定（測定試料と基準物質との間の熱量の差を計測し、融点やガラス転移点などを測定）します。

Ｘ線照射により放出される光電子の運動エネルギー分布を測定し、試料表面の元素の種類・存在量・化学結合状態を調べる装置です。

料と探針の原子間にはたらく力を検出して画像を得る装置です。

飛行時間型二次イオン質量分析法（TOF-SIMS：Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry)は、固体試料にイオンビーム（一次イオン）を照射し、表面から放出されるイオン（二次イオン）を、その飛行時間差（飛行時間は重さの平方根に比例）を利用して質...

カンチレバー法により、フィルムや布等の剛軟性を試験する装置です。

観察対象に電子線をあて、透過した電子線の強弱から観察対象内の電子透過率の空間分布を観察する装置です。

プラズマを利用したガスによって加工する方法をドライエッチングと呼び、半導体に精密な凹凸を形成することができます。

電子線を絞って電子ビームとして対象に照射し、対象物から放出される二次電子、反射電子（後方散乱電子、BSE）、透過電子、X線、カソードルミネッセンス（蛍光）、内部起電力等を検出する事で対象を観察出来る装置です。

SEM(走査型電子顕微鏡)にEDX(エネルギー分散型X線分析装置)を装備しており、観察領域における組成分析・元素マッピングができます。