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検索結果:すべてのカテゴリ「化合物」(86件)

    • Ic pin 東京都
    • 機器訪問利用

    円二色性分散計(CD)

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    円偏光の吸収の差(円二色性: CD)を測定する装置です。光学活性な分子の構造や電子状態、立体配置に関する情報が得られます。

    可能な実験例

    ・既知有機化合物光学異性体識別

    キラル分子CDスペクトルは横軸を中心として対称となります。そのため、容易に光学異性体の識別が可能となります。また、既に構造が判明している化合物の類似体について、CDスペクトル比較することによって立体配置の推定も可能です。

    タンパク質の二次構造推定

    タンパク質に含まれるαヘリックス、βシート、不規則構造において、それぞれ特徴的なコットン効果が確認されています。構造未知のタンパク質CDスペクトルを測定することで、ヘリックス含量の推定が可能となります。

    核酸の立体配座解析

    DNAを構成する核酸は、二重らせん構造のピッチや含有する塩基によって特徴的なコットン効果を示します。なので、その立体配座解析のためにCDスペクトル測定が有用です。

    食品昆虫混入時期推定

    昆虫の体を構成するタンパク質が加熱処理により変性する性質を用いて、加熱処理の前後どちらで混入したかを推定することが可能です。昆虫類が特異的に有するタンパク質を測定対象にし、その二次構造変化を追うことで実現します。


    ※組織により上記実験ができない場合がございます。

    • Ic pin 東京都
    • 機器訪問利用

    TOF-SIMS(飛行時間型二次イオン質量分析装置)

    Thumb cf103bf9 386d 44c2 92c7 544e8dae3bcd

    飛行時間型二次イオン質量分析法(TOF-SIMS:Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry)は、固体試料にイオンビーム(一次イオン)を照射し、表面から放出されるイオン(二次イオン)を、その飛行時間差(飛行時間は重さの平方根に比例)を利用して質...

    可能な実験例

    ・表面の欠陥

    試料表面の微細な欠陥を非破壊的に検査することができます。

    3次元イメージング

    固体試料中の任意の成分3次元イメージングを行い、汚染成分やその分布を知ることができます。

    ・生体成分の検出

    生体に由来する無機・有機成分を検出し、マッピングすることが可能です。

    有機物による汚染の確認

    試料のマススぺクトルのフラグメント解析により、有機化合物による汚染を確認することができます。

    ・粒子表面の測定

    粉末粒子表面の塗装などの解析を行うことができます。


    ※組織により上記実験ができない場合がございます。

    • Ic pin 東京都
    • 機器訪問利用

    ICP質量分析装置(ICP-MS)

    Thumb dd94e0ef d80d 45c6 be55 0709a964476f

    水溶液中に含まれる元素の分析を行います。

    可能な実験例

    (1) 海水中重金属の分析

    海水中には広範囲の濃度で微量元素が含まれていて、亜鉛、ニッケル、鉛などng/L ~ μg/Lレベルの微量重金属の含有量を明らかにするためにICP質量分析を用います。
    海水には数パーセントを超えるナトリウム、塩素なども含まれているため、海水をそのまま装置に導入して測定することができません。
    そこでキレート樹脂分離法により測定前に海水から微量重金属分離することを行います。海水中の重金属は有機または無機の溶存物配位子と錯体を形成している場合があるため、キレート樹脂に通す前に硝酸で処理します。
    酢酸アンモニウム溶液溶液のpHを調整したのち、重金属多価イオンと錯体を形成できる配位子をもったキレート樹脂に海水を通します。樹脂から重金属を取り出すために1~3mol/Lの希硝酸を樹脂に通します。

    (2) 生体試料

    生体中の微量金属と疾病の関係に調べるあたり、生体中の元素の多くはμg/L以下の極低濃度しか含まれていないので、ICP-MSのような高感度の測定が必要です。
    しかし試料に由来するNa, K, Ca, S, Pなどの妨害イオンの存在により測定が困難です。そのため質量分解能が高いICP-SF-MS(二重収束型ICP-MS)を使うことで妨害を除くことができます。
    硝酸や過酸化水素水によって生体試料を分解処理します。塩酸や硫酸ではSやClなどの妨害イオンが生じてしまうため使用を避けます。

    (3) 半導体材料

    半導体製造ではわずかな金属汚染でもデバイスの不良につながってしまうため、微量の金属分析が極めて重要で、ICP-MSにより微量の金属分析を行えます。
    シリコンをフッ化水素酸や硝酸の混酸で溶解して不純物を測定します。(このときSiF4が生成するが、沸点が-95.1℃であるため加熱して大部分を除去することができます。)


    ※組織により上記実験ができない場合がございます。

    • Ic pin 東京都
    • 機器訪問利用

    GC(ガスクロマトグラフィー)

    Thumb f156695e d66d 4354 b348 b5ad03b231ad

    気体および液体の成分分析を行います。

    可能な実験例

    食品のにおい成分の分析

    食品の香気成分として炭化水素類、アルコール類、エステル類などがあり、標準試料、検量線を用いて分析することによって、定性、定量ができます。

    分離膜の透過実験

    透過側と供給側の液の組成を測定することによって分離係数を算出することができます。

    樹脂の解析

    熱分解させた樹脂を測定することで骨格構造、末端基情報を得ることができます。

    高分子材料に含まれる添加成分の分析

    溶媒抽出などの前処理で得られた抽出液を分析し、酸化防止剤などの添加剤や残存溶媒の定性、定量ができます。


    ※組織により上記実験ができない場合がございます。

    • Ic pin 東京都
    • 機器訪問利用

    赤外分光光度計(FT-IR)

    Thumb 18da1369 161e 45ef bcc0 3bb308cb1082

    分子構造の決定、物質の同定を行う装置です。

    可能な実験例

    異物の同定

    既知物質赤外吸収スペクトル比較することで、異物の同定ができます。

    有機物構造解析

    赤外吸収スペクトルから、結合度や官能基の有無、シス-トランス異性などの構造を調べることができます。

    品質管理

    基準となる赤外吸収スペクトル比較することで、測定対象の品質が要求仕様を満たしているかを調べることができます。

    〇トランス脂肪酸含有量の測定

    全反射法を用いることで、食品に含まれるトランス脂肪酸の含有量を調べることができます。


    ※組織により上記実験ができない場合がございます。

    • Ic pin 茨城県
    • 機器訪問利用

    CVD装置

    Thumb 68a39e77 6ca2 4dd5 b993 a19ddc84b9fb

    薄膜(はくまく)形成装置の一つで、半導体の表面に薄い膜を堆積する装置です。

    可能な実験例

    ◯酸化物系の成膜

    原料に酸素含有ガスを用いることにより、酸化物薄膜が形成できます。例として絶縁膜などに利用されるSiOやAl2O3、強誘電体として利用されるPZT、超伝導体YBCOなどが成膜できます。その他にも多くの酸化物が研究されています。

    ◯化合物系の成膜

    化合物系薄膜成膜できます。例として太陽電池や 高速通信などに用いられるGaAs、LEDなどに用いられるGaN、パワーデバイスなどに用いられるSiCなどが挙げられます。

    ◯シリコン系の成膜

    広く産業用途で用いられるSi成膜できます。エピタキシャルSi、polySi、アモルファスSiなど、様々な状態のSi成膜できます。

    ◯2次元層状化合物の成膜

    近年活発に研究されているグラフェンや金属カルコゲナイドなどを成膜することができます。

    表面処理

    必ずしも平坦でない対象物表面にも処理できるため、凹凸の多い対象の表面処理などに用いられます。例として切削工具などの耐摩耗性を向上させるTiC、TiCNなどがあります。


    ※組織により上記実験ができない場合がございます。

    • Ic pin 茨城県
    • 機器訪問利用

    X線回折装置(XRD)

    Thumb eabcbe0c abc5 4c1b 8c1e 960309c30d58

    化合物の同定・定量分析や、結晶構造の解析を行うことができます。

    可能な実験例

    試料の定性・定量分析・相同定

    粉末X線回折法により得られた回折パターンを、既知物質の回折パターンと比較することで試料の定性・定量分析や相同定をすることができます。

    格子定数・イオン半径・原子座標位置の算出

    粉末X線回折法により得られた回折パターンのフィッテングを行うことで、試料の格子定数・イオン半径・原子座標位置を算出することができます。


    分子の三次元構造の決定

    単結晶X線回折法により得られた回折パターンから、分子の三次元構造を決定することができます。

    試料の格子歪・残留応力の測定

    X線回折法により得られた回折パターンから、ピーク位置のずれや幅を測定することで試料の格子歪・残留応力算出をすることができます。


    結晶方位の測定

    試料に照射するX線の角度を変化させながら、任意の結晶方位の回折ピークを測定することで試料の結晶方位を測定することができます。


    結晶配向性の測定

    特定のピーク位置における回折強度分布を測定することで、結晶の配向性を測定することができます。


    ※組織により上記実験ができない場合がございます。

    • Ic pin 神奈川県
    • 機器訪問利用

    【神奈川】GC/MS ガスクロマトグラフ質量分析装置

    Thumb a1ffb267 dedb 495f b113 f8576fc0ade3

    ガス状化合物の元素・質量分析に活用できます。ガス状試料の化学的特性を容易に分析することができるので、化学素材・中間素材製品などの化学的な分析・評価に活用できます。

    可能な実験例

    ・ガス状成分の分析
    など

    用途例

    ・化学素材、バイオ素材などの分析・評価

    • Ic pin 神奈川県
    • 機器訪問利用

    【神奈川】LC/MS 高速液体クロマトグラフ質量分析装置

    Thumb fdfabba5 b2bd 4b79 be49 50d7e5b8d0b5

    液状化合物の元素・質量分析に活用できます。液体試料の化学的特性を容易に分析することができるので、化学素材・中間素材製品などの化学的な分析・評価に活用できます。

    可能な実験例

    溶液成分の分析
    など

    用途例

    ・化学素材、バイオ素材などの分析・評価

    • Ic pin 神奈川県
    • 機器訪問利用

    【神奈川】SPM-E-sweep 走査型プローブ顕微鏡 (環境制御型SPM)

    Thumb 5843c404 50d1 406a a99e 19c1fea34a68

    接触または非接触(DFMのみ)により微小形状を測定することができる測定器です。 測定環境を真空に引いたり、加熱、冷却することがでます。 また、特殊なプローブを用意することにより、摩擦力や磁気マップなどを測定可能です。

    可能な実験例

    微細加工の実態状況や不良分析
    ・化合物の状態分析/評価
    微小形状測定表面粗さ測定
    など

    用途例

    室温大気圧下での形状測定
    接触または非接触測定

    測定チャンバー内を真空に引いたり、試料台を冷却、加熱して測定することが可能です。