検索結果：すべてのカテゴリ「X線回折装置」（7件）

本装置は、全自動水平型多目的X線回折装置(XRD)です。

粉末、バルク、薄膜など多様なニーズに対応し、ガイダンス機能を持ったアプリケーションにより最適な測定条件で分析が行えます。また専用の解析アプリケーションにより定性分析、定量分析、結晶化度、配向度、結晶子サイズ分布、膜厚、残留応力など様々な解析が可能です。

・粉末、バルクの定性分析、定量分析（2θ/θ測定）
・薄膜試料の定性分析（2θ（斜入射）測定、インプレーン測定）
・結晶方位分布や配向性の分析（極点測定、ロッキングカーブ測定）
・結晶化度の分析（2θ/θ測定）
・粉末、バルクの高温での相変態、格子定数変化（温度制御2θ/θ測定）
・加工材料の残留応力分析
・単結晶基板とエピタキシャル薄膜の結晶方位関係、格子定数の解析（逆格子マップ測定）

粉末、バルク、薄膜の結晶構造解析

試料の定性・定量分析・相同定

粉末X線回折法により得られた回折パターンを、既知物質の回折パターンと比較することで試料の定性・定量分析や相同定をすることができます。

格子定数・イオン半径・原子座標位置の算出

粉末X線回折法により得られた回折パターンのフィッテングを行うことで、試料の格子定数・イオン半径・原子座標位置を算出することができます。

分子の三次元構造の決定

単結晶X線回折法により得られた回折パターンから、分子の三次元構造を決定することができます。

試料の格子歪・残留応力の測定

X線回折法により得られた回折パターンから、ピーク位置のずれや幅を測定することで試料の格子歪・残留応力の算出をすることができます。

結晶方位の測定

試料に照射するX線の角度を変化させながら、任意の結晶方位の回折ピークを測定することで試料の結晶方位を測定することができます。

結晶配向性の測定

特定のピーク位置における回折強度分布を測定することで、結晶の配向性を測定することができます。


※組織により上記実験ができない場合がございます。

・薄膜の反射率測定
・薄膜膜厚測定
・液体含有物の粒径測定
・ゲルの空孔分布
・BB法
・PB法
・Inplane測定
など

・残留応力測定
・結晶成分分析
など

★都内からのアクセス良い
★全体100㎡ の自由度が高いシェアリングラボ
ナノ化製剤＆ナノ加工原薬のエキスパートから実験方法のアドバイス、サポートも可能です！！

・分析化学実験
・生化学実験
・物理化学実験

・研究プロジェクトを始める前の予備実験などに！
・自社で行えないサイドプロジェクトを行う場としての利用

機器の持ち込み　可能（要事前相談）
外部者の居室の有無　希望があれば控室の利用等を検討いただける
駐車場　学内の共通駐車場を利用可能

・材料表面の3D形状・粗さ評価
・微量元素の定性・定量分析
・有機化合物の構造解析
・DNAシークエンス解析
・細胞生存率・分化評価
・環境水の汚染物質分析
・食品や医薬品の成分分析
・放射性物質の検出と定量
・金属やセラミックスの結晶構造解析
・電気化学的特性評価

・基礎研究用（化学・バイオ）
・開発用
・研修用

ラボ駐車場利用可能

・無機固体材料物性評価
・無機材料合成

・熱電変換材料
・セラミック
・電池