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検索結果:すべてのカテゴリ「分析」(158件)

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    PCR

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    DNA増幅させる装置です。

    可能な実験例

    ○塩基配列の決定

    ゲノム配列が決定されていないDNAを増幅した上で、ショットガン塩基配列決定法やシークエネーターを併用することで、塩基配列を決定することができます。

    ○特定遺伝子の検出

    DNAの持つ多形性を利用し、加工食品の肉腫判定や結などのウイルス疾患の検査で実用化されています。リアルタイムPCRという、電気泳動による検出なしで目的DNAの増幅を確認できる手法を用います。

    ○cDNA(complementary DNA)の増幅

    逆転写酵素でcDNA-mRNAハイブリットを合成した後、RT-PCR(reverse transcriptase-PCR)を行うことで増幅することができます。



    ※組織により上記実験ができない場合がございます。

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    紫外可視分光光度計(UV-Vis)

    Thumb 72cce012 74c2 4120 b17f 3221f65e7d43

    紫外領域と可視領域の光の領域を用いて溶液の吸収スペクトルを測定し定量分析います。

    可能な実験例

    物質の透過率の測定

    物質の透過を測定し、物質の量(濃度や膜厚)から透過率を算出することができます。

    物質の反射率の測定

    試料ステージに反射測定用ユニットを設置することで、物質の反射率を測定することができます。

    物質の吸光度、バンドギャップの算出

    物質の透過率、反射率から、物質の特定波長における吸光度が算出されます(透過測定が振り切っていない場合のみ)。またピークの立ち上がり波長からバンドギャップが算出されます。

    物質のキャリアの確認

    物質がキャリアを持つ場合には、物質の透過スペクトルにおける概ね700nmから長波長側に吸収が見られます。

    ◯特定物質の定性、定量分析

    測定対象物質があらかじめわかっている場合は、吸収ピーク波長のシフトや濃度といった情報が得られます。

    その他

    偏光子をもちいることで、物質の光応答性に関する異方性の情報が得られます。配向結晶などに対して計測することで、結晶軸による光応答性の違いがわかります。

    ※組織により上記実験ができない場合がございます。

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    固体NMR(核磁気共鳴)装置

    Thumb 14a6be79 1ffd 4334 b649 8f2eab6603a9

    核磁気共鳴法(NMR)は、磁場中での原子核の共鳴現象を利用して、原子レベルの化学構造や分子運動性を解析できる手法です。 試料を溶媒に溶かすことなく測定するため、固体状態そのままの構造情報を得られます。

    可能な実験例

    〇多孔質物質構造解析

    29Siを測定することで、構造を推定することができます。

    ペプチド・ポリペプチド構造解析

    13Cを測定し、構造を推定することができます。

    ダイヤモンドライクカーボン(DLC)の評価

    13Cについてsp3とsp2の割合を解析することで、DLCの評価を行うことができます。

    高分子材料における結晶化度の定量

    DD/MAS 法にて得たスペクトルを用いることで、結晶相の炭素、非晶相の炭素の割合を比較することで、結晶化度を測定することができます。


    ※組織により上記実験ができない場合がございます。

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    走査型電子顕微鏡(SEM)

    Thumb 9cf45b93 71dd 496d 968e 7857c8ddc67d

    電子線を絞って電子ビームとして対象に照射し、対象物から放出される二次電子、反射電子(後方散乱電子、BSE)、透過電子、X線、カソードルミネッセンス(蛍光)、内部起電力等を検出する事で対象を観察出来る装置です。

    可能な実験例

    〇レジストのパターン形成の観察

    露光、現像後の半導体のパターンを観察することができます。

    〇複合材料(樹脂)の断面の観察

    フィラーや強化繊維などを樹脂分散させた際に、断面観察により分散状態を観察することができます。

    電極断面の観察

    LEDの金属電極断面について、低加速電圧で反射電子像を観察することにより、金属薄膜結晶の状態を観察することができます。

    〇金属材料の破損原因の分析

    金属材料が破損した際に、原因を分析する1つの手段として、破断面の状態を観察し、原因を分析することができます。

    ※組織により上記実験ができない場合がございます。

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    EDX(SEM-EDX)

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    SEM(走査型電子顕微鏡)にEDX(エネルギー分散型X線分析装置)を装備しており、観察領域における組成分析・元素マッピングができます。

    可能な実験例

    ○部品の破損原因の特定

    劣化して破損してしまった部品を表面分析することにより、本来部品に含まれていない成分などの有無を調べ、外的要因がないかどうかを判断することができます。

    ○金属中の変色調査

    変色してしまった金属製品を測定しマッピング分析をすることにより、変色箇所に含まれる成分を特定することができます。

    無機物質の大まかな材料判定

    未知の無機物質を測定し、標準試料のデータと照らし合わせることで無機物質の大まかな材料判定をすることができます。

    ○電子基板上の微小異物の分析

    電子基板上に発生した微小異物元素分析をすることにより、有機物無機物かを判別することができます。


    ※組織により上記実験ができない場合がございます。

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    EPMA(電子線マイクロアナライザー装置)

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    電子プローブマイクロアナライザ(EPMA)は、物質表面に電子線を照射して、そこから発生する特性X線を計測し、試料を構成する元素とその量を測定することができます。

    可能な実験例

    物質の構成元素定量分析

    物質を構成する元素強度比から、定量分析が可能です。電子顕微鏡観察面での分析であり、試料全体の定量分析ではないことに注意が必要です。また標準試料を用いることによって、定量の精度が向上します。

    物質の構成元素定性分析

    検出したX線の波長からどのような元素が含まれているかわかり、未知物質の組成推定に用いることができます。検出限界は 程度で、0.001質量%(重元素の場合)で、微量成分の分析には向きません。

    ◯相分離構造マッピング分析

    観察面の各位置から検出された特性X線波長を各元素ごとに色分けすることにより、元素マッピング分析が可能です。合金、磁石、鉱石などの相分離構造観察などに活用されます。

    ◯デバイスの縦方向組成分

    半導体などのデバイス断面を観察することで、各層を構成する元素組成がわかります。デバイス構成によっては層膜厚が分解能以下であるため、各層の組成ずれや層間の元素拡散の度合いが定性的にわかります。

    ◯汚染、不純物の組成特定

    製品不良解析や原因推定の際に有効な手段です。例えば不良があった半導体製品の表面に意図せず付着しているドロップレットの構造、組成が分かると、原因特定に役立ちます。


    ※組織により上記実験ができない場合がございます。

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    X線回折装置(XRD)

    Thumb eabcbe0c abc5 4c1b 8c1e 960309c30d58

    化合物の同定・定量分析や、結晶構造の解析を行うことができます。

    可能な実験例

    試料の定性・定量分析・相同定

    粉末X線回折法により得られた回折パターンを、既知物質の回折パターンと比較することで試料の定性・定量分析や相同定をすることができます。

    格子定数・イオン半径・原子座標位置の算出

    粉末X線回折法により得られた回折パターンのフィッテングを行うことで、試料の格子定数・イオン半径・原子座標位置を算出することができます。


    分子の三次元構造の決定

    単結晶X線回折法により得られた回折パターンから、分子の三次元構造を決定することができます。

    試料の格子歪・残留応力の測定

    X線回折法により得られた回折パターンから、ピーク位置のずれや幅を測定することで試料の格子歪・残留応力算出をすることができます。


    結晶方位の測定

    試料に照射するX線の角度を変化させながら、任意の結晶方位の回折ピークを測定することで試料の結晶方位を測定することができます。


    結晶配向性の測定

    特定のピーク位置における回折強度分布を測定することで、結晶の配向性を測定することができます。


    ※組織により上記実験ができない場合がございます。

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    【神奈川】XRD 多目的X線回折装置

    Thumb 282940bf 65e0 4656 884a 3f9408f035b3

    半導体及び金属材料などの結晶構造・欠陥構造・歪みなどを解析する装置。 反射率、膜厚・配向、小角散乱による粒径/空孔分布などの測定ができます。 製品や材料の品質・性能確認、不良解析などに利用できます。

    可能な実験例

    薄膜反射率測定
    薄膜膜厚測定
    液体含有物の粒径測定
    ・ゲルの空孔分布
    ・BB法
    ・PB法
    ・Inplane測定
    など

    用途例

    残留応力測定
    結晶成分分析
    など

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    【神奈川】SEM 走査型電子顕微鏡

    Thumb 97e2b5a0 7fcf 4ddb a2f3 405b9efcceb5

    電子顕微鏡として各種素材の表面を観察することができます。 オプションとして、EDS(元素分析)、CL(カソードルミネッセンス解析)を行うことができます。

    可能な実験例

    SEM画像観察
    EDS元素分析
    ・CLカソードルミネッセンス解析

    用途例

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    【神奈川】FIB/SEM 集束イオンビーム付き走査型電子顕微鏡

    Thumb 78f567ba a115 499e a123 74f8ef6ef62d

    電子顕微鏡として各種素材の表面を観察するだけでなく、集束イオンビームを使用して、半導体、金属素材などの各種材料の微細な表面加工を行うとともに、断面形状を観察することができます。 オプションとして、EDS(元素分析)、EBSD(結晶構造解析)を行うことができます。

    可能な実験例

    SEM画像観察
    サンプル電子ビーム加工
    ・真空中での断面加工部観察とEDS元素分析
    EBSD結晶構造解析

    用途例

    表面観察
    ・表面加工

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