CCD：X線回折により微小の単結晶試料（1mm以下）から化合物構造を測定します。金属から有機化合物まで広範囲の試料が測定できます。結晶構造決定のファーストチョイスです。 IP：X線回折により化合物の構造を測定します。銅線源を用いるため、天然物化学分野などで、有機化合物の絶対構造を明らかにする場...
ラマン散乱光により、化学結合や結晶構造、組成を分析します。本装置は電動ステージと共焦点顕微鏡が付属した顕微ラマン分光計で、固体・液体の測定に幅広く対応し、3次元マッピング測定も可能です。
沖縄県
材料分析・化学分析・バイオ研究に対応する先端機器を備え、元素分析、分子構造解析、細胞培養、環境測定などが可能。高精度な測定技術を駆使し、幅広い研究分野の実験が行える大学のラボです。
結晶中の原子や分子の精密な立体構造を知ることができる装置です。化学、材料化学、天然物化学、薬学、金属学や鉱物学の様々な分野において重要な結晶構造について精密な情報が得られます。100から300ケルビンまでの広い温度範囲で測定が可能です。構造解析についても相談に応じます。
神奈川県
粉末、バルク、薄膜の結晶構造解析
本装置は、全自動水平型多目的X線回折装置(XRD)です。
粉末、バルク、薄膜など多様なニーズに対応し、ガイダンス機能を持ったアプリケーションにより最適な測定条件で分析が行えます。また専用の解析アプリケーションにより定性分析、定量分析、結晶化度、配向度、結晶子サイズ分布、膜厚、残留応力など様々な解析が可能です。
・粉末、バルクの定性分析、定量分析（2θ/θ測定）
・薄膜試料の定性分析（2θ（斜入射）測定、インプレーン測定）
・結晶方位分布や配向性の分析（極点測定、ロッキングカーブ測定）
・結晶化度の分析（2θ/θ測定）
・粉末、バルクの高温での相変態、格子定数変化（温度制御2θ/θ測定）
・加工材料の残留応力分析
・単結晶基板とエピタキシャル薄膜の結晶方位関係、格子定数の解析（逆格子マップ測定）
東京都
円偏光の吸収の差（円二色性： CD）を測定する装置です。光学活性な分子の構造や電子状態、立体配置に関する情報が得られます。
※組織により上記実験ができない場合がございます。
