プラズマを利用したガスによって加工する方法をドライエッチングと呼び、半導体に精密な凹凸を形成することができます。
※組織により上記実験ができない場合がございます。
SEM(走査型電子顕微鏡)にEDX(エネルギー分散型X線分析装置)を装備しており、観察領域における組成分析・元素マッピングができます。
※組織により上記実験ができない場合がございます。
化合物の同定・定量分析や、結晶構造の解析を行うことができます。
ターゲットシーケンス、メタゲノム、小さいゲノムのシーケンス解析、ターゲット遺伝子発現、アンプリコンシーケンス、HLAタイピングなどに対応しています。
遺伝子の公式データベースへの登録
専門家が、新規化合物のラボベースの合成検討およびサンプル提供からその後のスケールアップなど幅広く対応致します。 他社にて合成の困難な化合物があれば、ぜひお問合せください。