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    全自動水平型多目的X線回折装置

    宮城県

    型番:リガク SmartLab 3G

    薄膜試料、粉末試料、バルク試料の定量分析、構造評価ができる。

    ・X線発生部:最大定格出力:3kW , ターゲット(Cu,Co)
    ・ゴニオメータ部:試料水平配置型θ-θゴニオメータ
    ・試料台回転アタッチメント(ナイフエッジ付):β軸±360° スピン速度1~120rpm 
    ...

    ¥5,655 /時間

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    訪問利用

    FIB/SEM デュアルビームシステム

    宮城県

    型番:Helios NanoLabTM 600i

    ナノスケールの微細加工、観察、分析、透過電子顕微鏡用試料作製ができる。 ...

    ・ FIB加工過程をSEMにてリアルタイムで観察可能。
    ・ TEM試料作製及びアトムプローブ試料作製が可能。
    ・ 自動機能にて、FIBスライス加工。
    ・ 同一視野での、SEM画像取得(EBSD,EDS測定含む...

    ¥19,239 /時間

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    訪問利用

    電界放出型電子プローブマイクロアナライザ

    宮城県

    型番:日本電子 JXA-8530F

    試料の特性X線の波長や強度、二次電子や反射電子量を測定して試料の構成元素や...

    電子像観察、定性分析、定量分析、元素分布観察、定量マッピング、相分析
    ・ 加速電圧: 1~30kV、二次電子分解能:3nm、倍率:×40~×300,000
    ・ 分析元素範囲: B~U 、X線分光範囲WDS: 0...

    ¥7,326 /時間

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    訪問利用

    多機能走査型X線電子分光分析装置

    宮城県

    型番:アルバック・ファイ PHI-5000VersaProbeⅡ-TSS

    表面深さ~10nmから放出される光電子スペクトルを測定し、表面の組成ならび...

    ・ 走査型X線源によりビーム径は、10μm~200μm の間で設定可能。
    ・ Scanning Xray Image のその場観察により、より正確、迅速な分析位置の決定が可能。
    ・ 低エネルギー電子とイオン同時...

    ¥9,178 /時間

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    訪問利用

    電界放出型走査電子顕微鏡

    宮城県

    型番:日本電子 JSM-7800F

    この走査電子顕微鏡は、スーパーハイブリッドレンズの照射系により高い分解能観...

    分解能は、加速電圧0.1kV~30kVで分解能3.0~0.8nm以下、スーパーハイブリッドレンズの採用により磁性材料の観察可能。EDS分析、EBSD分析(極点図・逆極点図)、大気非暴露試料保持対策、低真空観察ユニッ...

    ¥6,621 /時間

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