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検索結果:すべてのカテゴリ「ガス」(42件)

    • Ic pin 東京都
    • レンタルラボ
      産学連携

    【東京】有機、高分子化学が行える大学のラボ(産学連携先)

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    グローブボックスやドラフト、高速液体クロマトグラフなどを複数台完備し、有機化学実験や高分子化学実験などを行う事ができます。

    廃液の対応可
    外部者の居室の有

    可能な実験例

    有機化学
    高分子合成
    ・不斉合成

    • Ic pin 埼玉県
    • レンタルラボ
      産学連携

    【埼玉】大学のナノバイオ実験施設。質量分析等装置完備(産学連携先)

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    ナノエレクトロニクス、ナノマテリアル合成、微細加工、デバイス作製や、最先端機器を利用した計測を行うことができます。スーパークリーンルーム、バイオ系実験用クリーンルームを完備し、最先端機器であるTEMやEB描画装置等の装置を多数完備し、合成からバイオ実験までを一気通貫で行うことができます。

    ・機器の持ち込み可能
    ・廃液処理対応も可能
    ・委託実験については要相談
    ・技術指導については要相談
    ・居室有
    ・最先端機器(TEM、SEM)や、デバイス作製用クリーンルーム、バイオ実験室完備

    可能な実験例

    ・ナノエレクトロニクス材料作製・評価
    DNA細胞培養たんぱく質の解析、形態観察
    ・ナノカーボン材料合成、評価(フラーレン、カーボンナノチューブ、ナノグラファイト、グラフェン
    ・バイオ、ナノ融合研究

    用途例

    バイオセンサ開発
    ・マイクロ流路作製
    ・電子デバイス作製
    電子線描画装置によるレジストパーターン作製
    FIBを利用したTEM薄膜作製
    ・コバルト内包カーボンナノアニオンのTEM像と制限視野回折観察
    ・空中配線された量子ドットを有するナノ電子デバイスのSEM観察
    ・デオキシリボ核酸DNA)のAFM観察
    CMCマグネティックナノ粒子FT-IR分析
    ・単層CNTのラマンマッピング
    ・量子ドットの励起蛍光すペクトル(NIR-PLE)
    XPSによるグラフェン構造の評価
    ・オージェ電子分光による酸化グラフェン薄膜依存性
    飛行時間型二次イオン質量分析装置によるSiO元素深さ方向分布
    ・超電導材料の磁気特性(SQUID/VSM)測定
    ・硫酸銅のTG-DTA曲線
    ・カーボン材料の窒素ガス吸脱等温線(比表面積細孔分布計測)
    およびアクチンフィラメントを蛍光染色した食道がん細胞共焦点レーザー顕微鏡観察
    アポトーシスを起こしたJurket Cellsの蛍光染セルソータ
    ・ポリイプシロンカプロラクトンのMALDI-TOF-MSによる構造解析

    • Ic pin 東京都
    • 機器訪問利用

    有機溶媒中の電気化学(CV)測定/ダイヤフラムポンプ

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    有機溶媒中でのサイクリックボルタンメトリー測定などが可能です.

    試験機関ではあまり例のない,有機溶媒中での電気化学測定が可能です.

    可能な実験例

    用途例

    研究プロジェクトを始める前の予備実験など
    ・合成した分子機能評価など

    • Ic pin 神奈川県
    • 機器訪問利用

    フーリエ変換赤外分光光度計(FT-IR)

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    有機化合物の構造解析、材料の表面・バルク分析、マイクロ粒子の分析

    赤外吸収分光計(IR)はサンプルに赤外線を照射し、それによるサンプルの物質がどの周波数(通常は波数)の赤外線を吸収しているかを測定する装置です。分子や原子はそれぞれ固有の振動をしていますが、波長(スペクトル上では波数)を連続的に変化させながら赤外線(infrared : IR)を照射すれば、分子の固有振動と同じ周波数のIRが吸収され、分子の構造に応じたスペクトルが得られるはずです。これにより、サンプルが予測できるものであれば、既知のスペクトルと比較して、同定、確認ができますし、また、多重結合、官能基、シス-トランス異性、水素結合などの分子構造に関する知見を得ることもできます。
    なお、実際の測定原理は干渉計を利用したフーリエ分光法を用いていて、より高い波数の再現性を持っています。現在はこれらのFT-IRが一般的になっています。検出器は、焦電型のDTGS検出器と、半導体型のMCT検出器を備え、高感度分析にも対応しています。

    試料は、サンプルセルを換えることにより、固体、液体の状態で測定できます。通常、固体はサンプルをKBrに分散させるKBr法、液体は原液のまま測定する液膜法と溶媒に溶かす溶液法を用います。また、1回反射ATRユニットや高感度反射ユニットを用いることで固体、液体、フィルム状など、様々な状態の試料にも対応できます。その他、顕微IR用の顕微鏡アタッチメントを比較的簡単に据え付けることができ、微少領域の測定をすることが可能です。

    可能な実験例

    有機化合物構造解析、材料の表面・バルク分析、マイクロ粒子の分析

    用途例

    透過法セルホルダや各種ユニットを使用することで、様々な試料状態(液体・粉末・固形物気体など)の非破壊による測定ができて、試料の分子構造解析ができます。
    スペクトルデータ比較することにより、成分分析ができることがあります(ただし、付属のデータベースはないため別途スペクトルデータが必要です)。
    ・顕微法を用いることにより、10μm以上のサイズの粒子などを分析することができます。
    高分子材料の表面・バルクの分析をすることができます。
    ・高感度反射測定により、金属表面分子膜などを測定できます。

    • Ic pin 神奈川県
    • 機器訪問利用

    薄層クロマトグラフ質量分析計 (TLC-MS)

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    有機化合物の定性分析・簡易分析

    本装置は、薄層クロマトグラフ質量分析計(TLC-MS)と呼ばれる装置です。あらかじめ薄層クロマトグラフィ(TLC)によって成分を分離したTLCプレートを用意し、それを装置のホルダに取り付けることで、直接に成分分析ができる質量分析計となっています。TLCプレート用のホルダが付いていますが、それ以外でもガラス棒などに直接塗布して測定することもできます。

    質量分析のイオン化には、いわゆる「アンビエントイオン化」を使った装置であり、DRAT (Direct Analysis in Real Time) という名前のイオン源装置を備えています。DARTは、ヘリウムガスをプラズマ放電により励起し、試料に吹き付けることでイオン化させる手法です。大気圧中において、試料とガスの接触によりイオン化しますので、真空チャンバーに入れたり、前処理をしたりする必要がありません。そのため、リアルタイムにスペクトルが取れ、簡単に測定することができます。

    また、本装置は質量分離装置が四重極質量分析計(Q-MS)となっており、比較的高感度に測定できます。ただし、Q-MSは、スペクトル分解能が低いため、小数点以下の精密質量測定はできません。

    可能な実験例

    用途例

    薄層クロマトグラフ分離した成分をそのまま直接分析できます。
    ガラス管などに試料を付けて、大気圧下で測定することができます。

    • 委託

    岩石物性(浸透率、孔隙率)測定

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    岩石コアの浸透率、孔隙率を測定します

    用途例

    岩石程度の強度のある材質であれば岩石以外の材料でも測定可能です。詳しくはご相談ください。

    • Ic pin 神奈川県
    • 機器訪問利用

    熱天秤-質量分析装置 (TG-MS)

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    熱天秤(TG)と質量分析装置(MS)を繋いだ装置で、有機・無機材料の分解発生ガスの測定を行うことができます。

    • Ic pin 神奈川県
    • 機器訪問利用

    示差走査熱量測定装置(TG-DTA)

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    示差走査熱量測定(測定試料と基準物質との間の熱量の差を計測し、融点やガラス転移点などを測定)します。

    可能な実験例

    物質の熱に対する化学変化の調査

    物質を加熱し、重量変化を計測することにより、脱水、分解、燃焼、酸化、還元などの情報が得られます。例えば金属を大気雰囲気で加熱すると、酸素と反応して酸化物を形成する温度の情報が得られます。さらに高い温度まで加熱することにより、酸素の脱離する還元温度を確認できるなど、熱に対する挙動の情報が得られます。

    物質の熱に対する物理変化の調査

    物質を加熱し、重量変化を計測することにより、昇華、吸着、脱着、蒸発、などの情報が得られます。例えば吸着性のあるポーラス材料を加熱すると、気体の脱離で少しずつ質量が減少し、100度付近で水分子の脱離による重量減少がみられるなど、材料の吸着能の情報が得られます。

    物質の相変化温度調査

    示差熱分析により、物質の融解、ガラス転移点、結晶化、硬化、凝固温度など、相変化する温度がわかります。
    例えば有機物を加熱すると、融解に伴う吸熱ピークを確認できます。その他ポリマー結晶化や硬化ガラスの軟化点などの情報が得られます。

    ◯複雑な混合物の組成推定

    あらかじめ構成成分がわかっている材料の熱挙動がわかっていれば、データから成分含有量や比率の情報がえられます。例えば食品やセメントやゴムなど工業製品に対して使われることがあります。


    ※組織により上記実験ができない場合がございます。

    • Ic pin 東京都
    • 機器訪問利用

    集束イオンビーム(FIB)装置

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    集束したイオンビームを試料に照射し、加工や観察を行う装置です。

    可能な実験例

    SIM観察

    イオンスパッタ時に放出される二次電子を信号として可視化することにより画像として得られます。SIM像は、SEM像に比べて組成や結晶方位のコントラストが強く現れるため、金属などの微細構造組成の分布観察や結晶粒の観察などに適しています。

    ◯マイクロサンプリング

    透過型電子顕微鏡(TEM:Transmission Electron Micro-scope)などにより微少領域を観察する際などに用いる微少ブロックの形成(マイクロサンプリング法)に用いられます。TEM 試料台に搭載後、ビームの特性とマニピュレータ機能を組み合わせて、厚さ100nm程度の目的部位を摘出します。またFIB加工と顕微鏡観察を繰り返し、得られた連続画像をコンピューター上で再構成することにより、試料の三次元構造解析が可能となります。

    ◯破断の難しい試料の電子顕微鏡観察像取得

    試料の断面構造を観察する場合に、破断の難しい試料(金属や有機物など柔らかく、破断前後で形状が変わってしまうの)にも機械的なストレスを与えることなく断面を得ることができます。例として半田ボールの断面加工や有機系太陽電池などが挙げられ、EDXなどの組成分析とあわせて活用できます。

    ◯微少領域の断面加工

    試料が均質でなく、観察したい箇所が試料断面の一部分や数μm程度の大きさである場合も、SIM観察しながら細く絞ったビームで断面加工を行うことができます。例として基板上の異物観察による成長メカニズム解析、めっきの不良箇所、未着部分観察など、狙って断面を出すことが難しい試料でも加工を行うことができます。


    ※組織により上記実験ができない場合がございます。

    • Ic pin 東京都
    • 機器訪問利用

    ICP-AES(ICP発光分光装置)

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    液体試料中の元素の定性分析・定量分析固体試料中の元素の定量分析を行う装置です。

    可能な実験例

    無機物の構成成分定量分析

    成分組成や微量添加元素が性能に与える影響が大きい素材の分析に有効です。鉄鋼など合金、セラミックス、鉱石などの成分分析に用いられます。

    ◯環境規制物質の検査

    RoHSなどによる環境規制物質(鉛、水銀、カドミウムなど)の規制濃度は、例えばカドミウムの場合は100ppmなど、測定対象重量に対し微量です。 これらの微量成分定量分析に有効です。土壌や産業廃液製品の一部などが分析対象です。

    生体試料に含まれる金属などの定量分析

    体内に蓄積された重金属などが毛髪や爪、骨などに排出される場合があります。これらを溶かして分析、定量化することが可能です。

    食品中の汚染物質濃度検出

    消費者の健康保護のために食品の汚染物質に対する基準値が設けられており、例えば米に含まれるカドミウムの場合は0.4 ppm(mg/kg)以下と定められています。これら食品の低濃度汚染物質検査に用いられることがあります。


    ※組織により上記実験ができない場合がございます。

ご希望の設備/ラボが 見つからない場合は、 こちらからご要望を お聞かせください

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