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検索結果:すべてのカテゴリ「DX」(10件)

    • Ic pin 茨城県
    • 機器訪問利用

    EDX(SEM-EDX)

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    SEM(走査型電子顕微鏡)にEDX(エネルギー分散型X線分析装置)を装備しており、観察領域における組成分析・元素マッピングができます。

    可能な実験例

    ○部品の破損原因の特定

    劣化して破損してしまった部品を表面分析することにより、本来部品に含まれていない成分などの有無を調べ、外的要因がないかどうかを判断することができます。

    ○金属中の変色調査

    変色してしまった金属製品を測定しマッピング分析をすることにより、変色箇所に含まれる成分を特定することができます。

    無機物質の大まかな材料判定

    未知の無機物質を測定し、標準試料のデータと照らし合わせることで無機物質の大まかな材料判定をすることができます。

    ○電子基板上の微小異物の分析

    電子基板上に発生した微小異物元素分析をすることにより、有機物無機物かを判別することができます。


    ※組織により上記実験ができない場合がございます。

    • 委託
      産学連携

    波長分散型蛍光X線分析装置(WDX-XRF)

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    標準物質なしで、固体および液体中のF~Uまでの元素の定性分析・半定量分析が可能

    用途例

    X線解析・撮影・照射
    元素分析

    • 委託
      産学連携

    走査電子顕微鏡(SEM-EDS)による表面形状観察・元素マッピング解析

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    10000倍程度まで拡大可能な電子顕微鏡(SEM)で、表面形状観察を行います。元素組成の定性・定量分析(EDX)が可能で、金属・電気部品、食品・医薬品などの材料確認や異物・不良解析に利用可能です。

    用途例

    薄膜・金属等の材料研究、細胞や組織などの生物サンプルの解析など

    • Ic pin 神奈川県
    • レンタルラボ

    【神奈川】微生物検査・SEM完備・BSL2/P2レンタルラボ

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    衛生関連試験のCRO内のレンタル実験室。SEMで微生物や微粒子の観察したり、微生物の同定を分子生物学的解析でしたりできます。専有も時期によっては可能です。また、機器の持ち込みが可能なので、ニーズに合わせたご利用が可能です。

    ・SEM・EDX完備
    ・BSL1とBSL2の両方が使える
    ・機器の持ち込みが可能
    ・時期により専有可能

    用途例

    食品や水に含まれる異物微生物の観察や同定
    研究プロジェクトを始める前の予備実験などに!
    ・自社で行えないサイドプロジェクトを行う場としての使用

    • 委託

    研究用ソフトウェア開発【オンラインでご依頼可能!】

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    取得データに合わせた解析コードやソフトウェアの開発をサポート。時間のかかる解析業務を外部化することで、研究の工数を大幅に短縮することができます。

    ①リサーチャー自らエンジニアとタッグを組んで研究を支援。通常のソフトウェアメーカーよりもスムーズなコミュニケーションや現役研究者が担当するからこそ、「かゆいところに手が届く」サポートが可能です。

    ②脳・神経科学、画像解析を中心とした豊富な解析経験、ソフトウェア開発実績あり

    用途例

    ①取得したデータを研究室内で整理したい時に
    ②解析環境を研究室で統一・記録して残しておきたいしたい時に
    ③ご自身の解析を世界に発信したい時に(Webアプリとして公開する事が可能です。もちろん、研究室内のみでのご利用も可能です)

    ソフトウェアを作成するからこそできること】
    ・GUI ワークフロー
    コードではなく、視認性が高いGUI、ローコードでの解析設計を開発する事で、研究室に入りたての学生さんも快適に解析ができます。
    ・Visualize
    ワンクリックで簡単に解析結果を可視化。ご要望に応じ多彩なプロットオプションを提供します。
    ・Record
    ワークフロー記録し、再現・共有をしやすくすることで、
    「あのとき解析した手法」をもう一度試すしたり、改善しやすくなります。
    ・Share
    Web解析のアプリケーションとし、論文に記載をする事で、ご自身の解析方法を世界に発信/デファクトスタンダードとする第一歩となります。

    • 委託

    【異物・不良解析】走査電子顕微鏡(SEM-EDS)による表面形状観察・元素マッピング解析

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    走査電子顕微鏡(SEM-EDS)による表面形状観察・元素マッピング解析

    用途例

    ★ 異物表面観察元素マッピング解析
    ★ 不良製品の表明形状確認 (金属粉の形態観察材質判別など)

    • Ic pin 東京都
    • 機器訪問利用

    集束イオンビーム(FIB)装置

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    集束したイオンビームを試料に照射し、加工や観察を行う装置です。

    可能な実験例

    SIM観察

    イオンスパッタ時に放出される二次電子を信号として可視化することにより画像として得られます。SIM像は、SEM像に比べて組成や結晶方位のコントラストが強く現れるため、金属などの微細構造組成の分布観察や結晶粒の観察などに適しています。

    ◯マイクロサンプリング

    透過型電子顕微鏡(TEM:Transmission Electron Micro-scope)などにより微少領域を観察する際などに用いる微少ブロックの形成(マイクロサンプリング法)に用いられます。TEM 試料台に搭載後、ビームの特性とマニピュレータ機能を組み合わせて、厚さ100nm程度の目的部位を摘出します。またFIB加工と顕微鏡観察を繰り返し、得られた連続画像をコンピューター上で再構成することにより、試料の三次元構造解析が可能となります。

    ◯破断の難しい試料の電子顕微鏡観察像取得

    試料の断面構造を観察する場合に、破断の難しい試料(金属や有機物など柔らかく、破断前後で形状が変わってしまうの)にも機械的なストレスを与えることなく断面を得ることができます。例として半田ボールの断面加工や有機系太陽電池などが挙げられ、EDXなどの組成分析とあわせて活用できます。

    ◯微少領域の断面加工

    試料が均質でなく、観察したい箇所が試料断面の一部分や数μm程度の大きさである場合も、SIM観察しながら細く絞ったビームで断面加工を行うことができます。例として基板上の異物観察による成長メカニズム解析、めっきの不良箇所、未着部分観察など、狙って断面を出すことが難しい試料でも加工を行うことができます。


    ※組織により上記実験ができない場合がございます。

    • Ic pin 東京都
    • 機器訪問利用

    蛍光X線分析装置(XRF)

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    X線を試料に照射した時に発生する蛍光X線のエネルギーや強度から、物質の成分元素や構成比率を分析できる装置です。

    可能な実験例

    ○合金めっき膜圧の測定

    合金めっきをした試料材料を測定し各成分スペクトルを分析することによって密度、付着量、膜厚を求めることができます。

    基板電極部周辺の面分析

    基板電極部分を測定し元素マッピングすることによって金属の分布を知ることができます。

    ○岩石の成分分析

    岩石粉体状に砕き測定することで岩石に含まれる成分の種類と量などを分析することができます

    廃液成分分析

    廃液液体のまま測定することによって、液中に含まれる成分や量などを分析することができます。


    ※組織により上記実験ができない場合がございます。

    • Ic pin 茨城県
    • 機器訪問利用

    走査型電子顕微鏡(SEM)

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    電子線を絞って電子ビームとして対象に照射し、対象物から放出される二次電子、反射電子(後方散乱電子、BSE)、透過電子、X線、カソードルミネッセンス(蛍光)、内部起電力等を検出する事で対象を観察出来る装置です。

    可能な実験例

    〇レジストのパターン形成の観察

    露光、現像後の半導体のパターンを観察することができます。

    〇複合材料(樹脂)の断面の観察

    フィラーや強化繊維などを樹脂分散させた際に、断面観察により分散状態を観察することができます。

    電極断面の観察

    LEDの金属電極断面について、低加速電圧で反射電子像を観察することにより、金属薄膜結晶の状態を観察することができます。

    〇金属材料の破損原因の分析

    金属材料が破損した際に、原因を分析する1つの手段として、破断面の状態を観察し、原因を分析することができます。

    ※組織により上記実験ができない場合がございます。

    • Ic pin 神奈川県
    • 機器訪問利用

    【神奈川】MLS マスクレス露光装置

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    PCなどで作成したパターンデータを、フォトマスクなしで直接基板上のフォトレジストに転写する装置です。 半導体や金属材料に微細な加工を施すことができ、容易に試作をすることができます。

    可能な実験例

    ・プリント版パターン成型
    ・微小溝加工
    など

    用途例

    ・試作基板の作成
    ・マイクロチャネル成型
    など

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